Occasion NANOMETRICS M6100UV-L6 #9257609 à vendre en France

NANOMETRICS M6100UV-L6 est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes qui inspecte les circuits intégrés pendant le processus de fabrication. Il est capable d'inspecter une variété de modèles et de caractéristiques, y compris les structures miniflat, les lignes et les espaces. M6100UV-L6 balaye les surfaces avec un faisceau laser pour détecter les défauts et les écarts mineurs. Son système optique comprend des miroirs gravés qui réduisent la taille du faisceau laser pour obtenir un grossissement allant jusqu'à 97x. L'appareil est équipé d'une caméra CCD 360 degrés (appareil couplé chargé) qui fournit une perspective tridimensionnelle du masque ou de la plaquette et utilise une optique haute résolution pour identifier les défauts jusqu'à 2 microns. La caméra CCD dispose également d'un suivi auto-focus qui peut détecter et corriger le désalignement du faisceau dans le plan de balayage. En outre, la source de rétroéclairage optionnelle garantit que les caractéristiques sombres telles que les vias en silicium à travers sont facilement détectées et mises en évidence. Ce scanner est également équipé d'une variété d'autres fonctionnalités, y compris un étage xyz motorisé, permettant un déplacement rapide entre différents endroits sur une seule plaquette ou un masque. De plus, les images haute résolution peuvent être rapidement vues et analysées à l'aide du logiciel d'application de bureau inclus. Le logiciel permet aux utilisateurs de générer et de sauvegarder des rapports qui donnent des informations détaillées sur la nature, la taille et la mise en page des défauts errants observés. Dans l'ensemble, NANOMETRICS M6100UV-L6 est une machine avancée d'inspection de masque et de plaquettes qui offre de nombreux avantages, y compris des dossiers d'inspection très détaillés et la capacité de facilement repérer et identifier les composants défectueux. En fournissant des rapports détaillés, les ingénieurs peuvent repérer les problèmes au cours des cycles de développement et les identifier et les corriger rapidement, ce qui entraîne des cycles de production plus rapides et des économies de coûts.