Occasion NANOMETRICS Nano 215S #9250105 à vendre en France

NANOMETRICS Nano 215S est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes très avancé qui permet une imagerie précise et fiable à haute résolution. Grâce à une qualité d'image supérieure, une inspection automatisée sophistiquée et une interface opératoire intuitive, ce système permet d'augmenter le rendement et de réduire les défauts pour une large gamme d'applications de dispositifs semi-conducteurs. Généralement, cette unité de contrôle de masque et de plaquette fonctionne en capturant une image numérique de l'échantillon puis en effectuant une inspection automatisée pour identifier les éventuels motifs ou anomalies de l'image. Sa conception modulaire offre une plate-forme pour une gamme de capacités d'imagerie et d'inspection, y compris la microscopie à champ lumineux, la microscopie à champ noir, la micrométrie laser, le SEM, l'infrarouge et plus encore. Il intègre également une variété de techniques, telles que l'appariement de motifs basés sur l'IA, la comparaison d'images, l'analyse signal-bruit et la catégorisation des défauts. La principale caractéristique de Nano 215S est ses capteurs avancés, l'optique d'imagerie et les logiciels. La résolution est jusqu'à 0,4 µm - l'un des plus élevés de l'industrie. Les capteurs, y compris CCD et sCMOS, peuvent capturer jusqu'à 5 mégapixels d'images avec une grande dynamique et sensibilité. L'optique et le microscope offrent l'imagerie vidéo des modes de champ lumineux et de champ sombre à l'imagerie 3D avec micrométrie laser. Le logiciel de la machine est à la fois intuitif visuellement et convivial. Il offre un large éventail de fonctions d'inspection automatisée, aidant à identifier les motifs d'alignement, les défauts, les écarts dimensionnels, les variations de matériaux, et plus encore. Les algorithmes basés sur l'IA permettent la catégorisation et le reporting des défauts, ainsi que la reconnaissance complexe des caractéristiques et du savoir-faire personnalisé. L'interface graphique conviviale aide les utilisateurs à configurer rapidement et facilement les inspections pour diverses opérations. Dans l'ensemble, NANOMETRICS Nano 215S est un outil d'inspection de masque et de plaquette très avancé qui offre une qualité d'image supérieure, une inspection automatisée sophistiquée et une interface utilisateur intuitive. Sa conception modulaire et ses capacités d'imagerie et d'inspection avancées contribuent à augmenter le rendement et à réduire les défauts, ce qui ajoute de la valeur au processus de test des dispositifs semi-conducteurs.