Occasion NANOMETRICS NANOLINE CD 50 #9166570 à vendre en France

NANOMETRICS NANOLINE CD 50 est un équipement de nouvelle génération de masque et d'inspection de plaquettes conçu pour répondre aux besoins des lignes de production de semi-conducteurs avancées. Développé avec les dernières avancées dans l'optique, les capteurs, l'imagerie et l'automatisation, le système est capable de fournir une inspection et une métrologie rapides, fiables et précises pour une variété d'applications. Du point de vue de l'architecture de base, NANOLINE CD 50 est une station d'inspection entièrement automatisée, contrôlée par PC et autonome équipée d'un microscope optique Zeiss de pointe, d'un microprocesseur Relion et d'un robot industriel. L'étage linéaire de qualité industrielle permet un positionnement très précis des plaquettes, permettant à l'unité de scanner avec précision chaque dispositif. De plus, la machine est capable d'imiter des plaquettes jusqu'à 5 pouces de diamètre et jusqu'à quatre substrats à la fois, pour un débit maximum de 40 substrats par heure. Les composants d'imagerie avancés de l'outil assurent une inspection haute résolution des appareils. Le microscope Zeiss est équipé d'un champ de vision de 14mm x 10mm, fournissant une image de 73 nm de taille pixel. Une caméra CCD intensifiée capture simultanément des images de plaquettes avec jusqu'à 48 millions de pixels de résolution, d'où une qualité d'image extrêmement élevée. Les algorithmes d'analyse d'image de NANOMETRICS NANOLINE CD 50 sont basés sur la reconnaissance des caractéristiques, la segmentation et la classification des images, la couleur et l'analyse du contraste. L'actif est également capable de reconnaissance avancée des motifs et de classification des caractéristiques, permettant une inspection précise des motifs complexes tels que vias, contacts et autres structures nanométriques. Pour améliorer l'efficacité, NANOLINE CD 50 peut être intégré dans un plus grand modèle automatisé. En outre, l'équipement est capable de communiquer avec d'autres systèmes ou dispositifs, de transférer des données et des résultats via Internet ou d'autres réseaux. Le système est compatible avec une variété de systèmes d'exploitation, y compris Windows, Linux et Mac OS X. Dans l'ensemble, NANOMETRICS NANOLINE CD 50 est un masque et une unité d'inspection de plaquettes très sophistiqués conçus pour fournir une inspection et une métrologie précises, rapides et fiables pour une production avancée de semi-conducteurs. De son microscope Zeiss de pointe, à ses algorithmes sophistiqués d'analyse d'images, en passant par sa compatibilité avec l'automatisation des chaînes de valeur, NANOLINE CD 50 est une solution supérieure pour toute application nécessitant une inspection fiable et précise des masques et des plaquettes.