Occasion NANOMETRICS NanoSpec 181 #63433 à vendre en France
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ID: 63433
Taille de la plaquette: 3", 4"
Style Vintage: 1986
Film thickness analyzer
Model No.: 7000-0092
Measures (11) film types: silicon dioxide, silicon nitride, negative and positive resists, polysilicon, thin oxides and nitrides, and polyimide on silicon
Range: 480 to 800nm
CS-2 computer
Wafer shuttle stage for 3/4" wafers
OLYMPUS objectives: 5x/10x/40x M Plan
WYSE terminal
Voltage: 110V
1986 vintage.
NANOMETRICS Nérabilité Spec 181 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour une large gamme d'applications de fabrication de semi-conducteurs. Il utilise un système propriétaire de traitement d'image combiné à une gamme de systèmes d'imagerie et d'optique pour assurer une imagerie de haute précision à l'échelle nanométrique. L'unité effectue des mesures optiques avec précision et précision de 1nm (1 nanomètre). Le Nthat Spec 181 dispose d'un étage de plaquette et d'une machine de positionnement hexapode unique qui offre un contrôle de mouvement à 6 axes et une stabilité supérieure. Cela permet un alignement très précis des échantillons et une précision constante des mesures. Le sous-système d'imagerie de NANOMETRICS Nérabilité Spec 181 est basé sur une optique à deux lentilles avec une longue distance de travail, idéale pour l'imagerie 3D. Une technologie d'étape et de scan est utilisée, avec une caméra de scan ligne haute résolution qui capture des images de l'échantillon pendant le déplacement de la scène. Les images sont ensuite cousues ensemble en temps réel pour construire des cartes 3D détaillées. La caméra de balayage de ligne offre une cadence maximale élevée et un alignement dynamique. Le module 181 dispose également d'un mode d'inspection macro. Cela permet aux utilisateurs de scanner systématiquement de grandes surfaces de chaque plaquette au même niveau de détail, en fournissant une compréhension complète de leurs structures de surface. Plusieurs opérations de mode sont disponibles, y compris la détection de défauts, la mesure de superposition et la détection de whisker. NANOMETRICS NTHAT 181 permet aux utilisateurs de saisir rapidement et précisément les données nécessaires de différentes couches d'un dispositif semi-conducteur. Les images et les données obtenues peuvent être visualisées, stockées et ensuite utilisées pour optimiser le processus et améliorer le rendement du dispositif. L'outil est facile à utiliser et est idéal pour démontrer des niveaux extrêmement élevés de précision, de précision et de reproductibilité des données. Grâce à la combinaison de ses atouts d'imagerie sophistiqués, de sa mécanique innovante et de son interface utilisateur intuitive, Nérabilité Spec 181 est un modèle idéal pour fournir des résultats précis et reproductibles dans la fabrication industrielle de semi-conducteurs.
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