Occasion NANOMETRICS NanoSpec 210 #142743 à vendre en France

NANOMETRICS Nérabilité Spec 210 est un système d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour l'examen automatisé et non destructif des masques et des plaquettes grâce à diverses technologies d'imagerie et modalités d'inspection. NANOMETRICS NANO SPEC 210 fournit une solution complète et répétable pour l'inspection des masques et des plaquettes, y compris l'inspection des particules et des défauts ainsi que l'examen de l'intégration couche par couche. Ses performances sont basées sur une optique de haute qualité, une correction dynamique de l'image et des modes et modalités d'imagerie flexibles. Tous les défauts de surface et les particules sont éclairés dans le champ sombre et une véritable vue confocale de la surface de résiste est utilisée pour réduire le bruit et améliorer la résolution. Le traitement d'image est réalisé grâce à la combinaison d'une fenêtre dynamique réglable, de filtres spécialisés, et de multiples méthodes de contraste et d'amélioration des bords, générant des images nettes et claires. Le système dispose de multiples modalités d'inspection non destructives, offrant la capacité d'image et d'examen des modèles et des défauts sur une variété de couches de masque et de plaquettes. Les algorithmes d'enregistrement automatisés détectent et mesurent avec précision les particules, tandis que la validation des défauts post-motif garantit que les défauts indésirables, tels que les ponts et les rayures, sont détectés avec précision et automatiquement. NANO SPEC 210 dispose également d'une capacité de classification automatisée des défauts. Les types de défauts, tels que les courts, les ouvertures, les ruptures, les trous de contact et les transitions, sont identifiés et annotés pour vérification. En utilisant des règles définies par l'utilisateur, il peut également identifier les fausses ouvertures, ponts et défauts d'encoche, s'assurer que tous les défauts sont correctement caractérisés et correctement tracés, enregistrés et corrigés. NANOMETRICS NhouseSpec 210 propose également une gamme de solutions de métrologie, telles que CD-SEM, mesures de largeur de ligne et variations de dimensions critiques. L'analyse quantitative des CD appuie en outre les anomalies transversales et l'identification de la dérive des CD et de l'uniformité des CD, ce qui améliore la disposition et le rendement des procédés. La conception compacte et intuitive de NANOMETRICS NANO SPEC 210 permet une configuration et un fonctionnement efficaces. L'interface logicielle conviviale offre une navigation simple et rapide, complétée par une gamme de guides didactiques, des flux de travail pré-configurés et des fonctions de traitement par lots. Un service complet d'installation et de formation sur place est également disponible, offrant aux clients un soutien et une assistance complets.