Occasion NANOMETRICS NanoSpec 210 #150266 à vendre en France

NANOMETRICS Nérabilité Spec 210 est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour détecter les défauts sur les masques et les plaquettes utilisés dans les procédés de fabrication des semi-conducteurs. Le système garantit une qualité d'image et une précision élevées, minimisant les fausses alarmes et maximisant l'efficacité. NANOMETRICS NANO SPEC 210 est construit sur deux sous-systèmes : Le premier est un module de microscope lumineux, fournissant une haute résolution, pleine couleur 22 mégapixels capteur CMOS et des éléments optiques. Il offre une capacité à plusieurs couches, permettant une commutation rapide et facile des types de couches. L'unité autofocus intégrée se concentre automatiquement sur la surface de l'échantillon en quelques secondes, et un autocollimateur intégré assure un alignement précis de l'échantillon. Un module d'optique avancé permet l'imagerie descendante et ascendante, avec une facilité de mise au point manuelle optionnelle disponible pour les opérations manuelles. La seconde est une Wafer Inspection Machine, avec les derniers algorithmes avancés de traitement d'image pour une grande précision et le débit. L'outil utilise une source d'éclairage LED solide haut de gamme pour une large gamme de conditions lumineuses, et une optique de haute puissance pour assurer une image claire et précise. Grâce à une vitesse de balayage rapide allant jusqu'à 4.2MHz, Nérabilité Spec 210 peut rapidement et précisément identifier et classer les défauts. La NANO SPEC 210 dispose également d'un actif de classification des défauts intégré, utilisant des algorithmes de traitement d'image numérique pour inspecter rapidement les défauts jusqu'à 0,3 µm de taille. En outre, un modèle de marquage numérique est intégré pour signaler et étiqueter les défauts identifiés, ce qui permet d'améliorer le déroulement du travail et la traçabilité. L'équipement comprend également une interface utilisateur intuitive et un logiciel, permettant à l'utilisateur de configurer, analyser et dépanner rapidement les plaquettes et les masques. L'imagerie automatique est activée grâce à des paramètres prédéfinis, tandis que les rapports sont automatiquement générés une fois qu'un lot de plaquettes a été inspecté. Dans l'ensemble, NANOMETRICS Nfor Spec 210 est un système avancé et précis d'inspection des masques et des plaquettes, offrant une grande vitesse et précision, interface utilisateur intuitive et unité de classification automatisée des défauts. Il fournit aux utilisateurs une solution fiable et rentable pour réduire le temps de production tout en garantissant des produits de haute qualité.