Occasion NANOMETRICS NanoSpec 210 #9372725 à vendre en France

Le NANOMETRICS Nfor Spec 210 est un équipement complet d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour mesurer et analyser les masques et les plaquettes nues pour détecter les défauts. Le système dispose d'une source lumineuse avec un réseau LED de haute puissance qui permet un éclairage lumineux d'une grande variété de substrats, y compris les masques métalliques et les plaquettes. NANOMETRICS NANO SPEC 210 comprend également une caméra CCD de haute qualité de 5 mégapixels et une lentille télécentrique avec un arrêt de champ intégré, permettant de mesurer et d'inspecter avec précision les caractéristiques des plaquettes avec une résolution pouvant atteindre 2,5 μ m. L'unité comprend un logiciel de métrologie complet avec des fonctions personnalisées pour mesurer et analyser les défauts, ainsi qu'un utilitaire d'étalonnage pour assurer la précision et la répétabilité. NanoSpec 210 utilise la technologie d'aiguisage d'image conduit du laser (LIS), un algorithme de reconnaissance des formes de propriétaire et une machine de détection de défaut à grande vitesse à vite et identifiez exactement des défauts, même ceux dans les vacances les plus profondes d'un masque à motifs. L'outil est capable d'analyser et de regrouper automatiquement les défauts dans une seule mesure, d'augmenter la précision de mesure ainsi que de fournir des préférences de profondeur pour le contenu de révision automatique. Le moteur d'analyse algorithmique des défauts hautement sensible permet la génération et l'analyse instantanées de fichiers de listes de défauts automatisés, et l'actif dispose d'un puissant moteur de traitement d'image pour la réparation, le nettoyage et l'optimisation des masques et des plaquettes. Les capacités d'imagerie et d'analyse avancées du modèle vont au-delà de l'identification et de l'analyse des défauts. Il peut effectuer un large éventail d'analyses pour révéler des défauts de trous de contact, des tailles et des formes de matrices, et des traces, des couches conductrices, et plus encore. Le logiciel permet aux utilisateurs de rechercher et de comparer rapidement différentes étiquettes en utilisant des paramètres tels que la taille, la forme, le signal et le fond, et il peut mesurer, analyser et enregistrer une variété de paramètres de processus tels que le pas, la largeur de ligne, la taille des fonctionnalités, la superposition et l'échelle de gris. De plus, NANO SPEC 210 est capable de générer rapidement une grande variété de paramètres d'amélioration d'image pour supporter des mesures difficiles. NANOMETRICS Nérabilité Spec 210 est un équipement très robuste conçu pour être utilisé dans des environnements difficiles, tels que les usines de fabrication de semi-conducteurs. Le système est conçu avec une conception économe en énergie et sans ventilateur qui permet de fonctionner sans émettre de bruit ou de vibrations, et sa construction très durable permet de fonctionner dans un plus large éventail de conditions environnementales. L'unité est également conçue pour une intégration facile avec les équipements existants, permettant un fonctionnement sans heurts dans les lignes de production existantes. Son interface utilisateur intuitive et ses capacités de visualisation et d'analyse dynamiques en font un excellent choix pour le contrôle de la qualité et l'optimisation des rendements dans les principales installations de production de l'industrie.