Occasion NANOMETRICS NanoSpec 3000 #9386854 à vendre en France
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ID: 9386854
Taille de la plaquette: 3"-6"
Style Vintage: 2001
Film thickness measurement system, 3"-6"
Solid stage linear diode array detector
(15) Standard film types
Measurement time: 0.25 sec to 4 sec
Statistical data analysis
Data export (ASCII)
Optics: 10x
Spot size: 25 μm
Computer: 333 MHz
Hard dive: 3.2 G
RAM: 64GB
Film: (3) Layers
Film thickness range: 250 A to 35 µm
Wavelength range: 480-800 nm
Reproducibility: <2 A
Lamphouse: 50 W
Power supply:
117±5% VAC, 50/60 Hz, 5 A
230 V, 50/60 Hz, 2.5 A
2001 vintage.
NANOMETRICS Le Masque et l'équipement d'inspection Nanometrics N........Spec 3000 est un système d'inspection avancé à haute résolution conçu pour évaluer avec précision la taille des caractéristiques et les caractéristiques de la matrice sur les masques et les plaquettes. Il est utilisé dans la recherche et le développement de nouveaux produits, ainsi que lors de la production de circuits intégrés. NanoSpec 3000 présente un palier à air l'acquisition d'image basée, à haute résolution et l'unité de traitement de signal conçue à enquêter sur les structures de sous-micron sur les masques et les gaufrettes. La machine comprend un outil de vision automatisé qui peut rapidement analyser et des zones d'image de quelques microns jusqu'à plusieurs centaines de microns dans la taille. En outre, il est en mesure d'encliqueter des images sous divers angles, dont 75 °, 60 ° et 45 °, fournissant à l'utilisateur une image visuelle complète de l'objet inspecté. Contrairement à d'autres systèmes d'inspection, NANOMETRICS Nérabilité Spec 3000 dispose également d'un étage de déplacement de vision de précision qui peut déplacer l'échantillon dans les directions x, y et z afin que des mesures précises puissent être effectuées. Cela permet à l'utilisateur d'ajuster et d'extraire manuellement des données de mesure précises, ainsi que d'analyser l'ensemble de la matrice pour toutes les fonctionnalités irrégulières. L'actif a également la capacité de faire des essais et des analyses de plaquettes non destructives. Grâce à l'imagerie en temps réel et à la sélection de plusieurs régions d'intérêt, les utilisateurs peuvent rapidement accéder aux données sur les différentes structures et composantes des plaquettes et les examiner. Ce processus peut aider à évaluer l'intégrité des défauts locaux et/ou des aberrations sur les plaquettes à l'essai, sans perturber la conception. NanoSpec 3000 présente aussi un modèle de traitement en temps réel à grande vitesse pour analyser des dimensions critiques (les CDs) en utilisant des méthodes optiques numériques. De plus, les utilisateurs peuvent acquérir des images de sous-surface des IC, en utilisant la microscopie photo-émission, ou utiliser des mesures spectrales pour analyser les paramètres d'affichage et tester les changements spectraux induits par les films ou les paramètres de processus. Enfin, le Masque et le Wafer Inspection Equipment produiront également des rapports sur les données générées lors des essais. Cela peut aider à dépanner le processus et à améliorer le rendement global dans le processus de production. En résumé, NANOMETRICS Nérabilité Spec 3000 est un puissant système d'inspection capable de fournir une analyse visuelle complète sur les masques et les plaquettes. Il comprend des fonctionnalités telles qu'une unité de vision automatisée, un étage de déplacement de vision de précision, un test et une analyse non destructifs des plaquettes et une machine de traitement en temps réel à grande vitesse. Toutes ces fonctionnalités combinées font de Nérabilité Spec 3000 un choix idéal pour évaluer avec précision les tailles et les caractéristiques de la matrice sur les masques et les plaquettes.
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