Occasion NANOMETRICS NanoSpec 4150 #9069402 à vendre en France

NANOMETRICS Nérabilité Spec 4150 est un masque haute performance et un équipement d'inspection des plaquettes conçu pour fournir une précision et une vitesse supérieures pour l'inspection et l'analyse des masques et des plaquettes. NanoSpec 4150 présente un système de balayage d'hybride composé d'une tête de scanner faite breveter, une lentille de scanner de large angle et un tube de renvoi du gaz (GDT) pour spatialement améliorer la résolution contrastée. La tête de balayage offre un contrôle précis du faisceau laser afin que chaque champ de vision puisse être balayé avec une précision maximale. De plus, l'objectif de balayage grand angle et le GDT offrent un contraste d'image plus grand et plus de détails que les autres systèmes de balayage, ce qui permet des analyses plus précises. NANOMETRICS Nérabilité Spec 4150 est conçu pour être très flexible et adaptable, avec la capacité de numériser rapidement les substrats de masque et de plaquette et de fournir des résultats en temps réel. Une unité logicielle intégrée permet un fonctionnement rapide et facile, et comprend une grande variété d'outils et d'algorithmes logiciels d'analyse de masques et de plaquettes. La machine peut également être intégrée à la métrologie, à l'analyse des défaillances, au faisceau E et à d'autres systèmes, ce qui permet une caractérisation complète du processus semiconducteur. NanoSpec 4150 se vante d'une ligne impressionnante de détection et de capacités analytiques, telles que les dislocations automatiques, la détection d'aérosol, l'identification de défaut, l'inspection de ligne de visée et d'autres techniques reflétantes avancées. Ces caractéristiques sont complétées par une gamme d'autres fonctionnalités, y compris l'imagerie à l'échelle de couleur et de gris, et des mesures quantitatives de la couverture de la zone, de la taille du grain, de la rugosité du bord de ligne, du nombre de particules et d'autres paramètres. Au-delà de ses capacités d'imagerie et d'analyse avancées, NANOMETRICS NécosystSpec 4150 propose également une métrologie pour le dimensionnement et la caractérisation des plaquettes critiques. L'outil de métrologie peut mesurer avec précision une variété de paramètres, y compris les largeurs des lignes de circuit, l'espacement des lignes et d'autres caractéristiques pertinentes. Dans l'ensemble, Nérabilité Spec 4150 est un masque puissant, rapide et très précis et un outil d'inspection des plaquettes. Sa combinaison de technologie avancée de balayage et d'imagerie, de logiciels puissants et de capacités analytiques complètes en font un outil précieux pour caractériser et comprendre les processus semi-conducteurs.