Occasion NANOMETRICS NANOSPEC 8000XSE #9096765 à vendre en France

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ID: 9096765
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1998
Thin film measurement system, 8" Cassette to cassette Ellipsometer: J.A. Woolham M44 Operating system: IBM OS Light source: LPS-300, 75W EC 270 Pre-aligner: 5" - 8" 115V, 5A, 30/60Hz. 1998 vintage.
NANOMETRICS NANOSPEC 8000XSE est un équipement haut de gamme d'inspection de masques et de plaquettes qui est capable de nombreuses tâches de haute précision. Il peut être utilisé pour mesurer avec précision les couches métalliques, les plans métalliques, les vias de contact et les bordures chevauchantes de divers composants de circuits intégrés (IC). Le système utilise de très petits composants optiques qui mesurent à l'échelle du nanomètre. Ces composants permettent des mesures extrêmement précises des composants IC et fournissent les mesures les plus précises disponibles. NANOMETRICS NANOSPEC 8000X SE est capable d'imager en temps réel avec une très haute résolution, grâce à son puissant microscope. Cela lui permet de rendre les images avec encore plus de précision, et permet à l'unité de comparer de nombreux types de surfaces d'échantillons en quelques secondes avec une grande précision. Il utilise également des algorithmes puissants pour identifier rapidement les caractéristiques microscopiques de surface, et peut détecter des variations anormales ou des défauts dans l'échantillon. Les autres caractéristiques de NANOSPEC 8000 XSE comprennent un étage optique personnalisable, un autofocus à commande logicielle et un alignement automatisé. L'étage optique est capable de fonctionner selon de nombreux angles et hauteurs, permettant des mesures très précises de différentes parties de l'échantillon. L'autofocus à commande logicielle permet des réglages de focalisation extrêmement précis afin d'obtenir les mesures les plus détaillées possible. La machine d'alignement automatisée est également capable de positionner avec précision l'échantillon au microscope pour une imagerie optimale. NANOSPEC 8000XSE dispose également d'une interface graphique intuitive, permettant aux utilisateurs de créer facilement un flux de travail qui correspond le mieux à leurs besoins. Il comprend une bibliothèque d'imagerie optique avancée avec un large éventail de types d'échantillons et de paramètres, permettant à l'outil de mesurer et d'évaluer avec précision toutes sortes de composants IC. Compte tenu de ses caractéristiques et capacités, il est facile de comprendre pourquoi NANOSPEC 8000X SE est l'un des systèmes d'inspection de masques et plaquettes les plus fiables et précis disponibles. Avec sa précision et son logiciel de pointe, il peut fournir d'excellentes mesures et aider à assurer le bon fonctionnement des circuits intégrés. Cela en fait un outil indispensable pour les entreprises travaillant avec des IC ou d'autres composants technologiquement avancés.
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