Occasion NANOMETRICS NanoSpec 9010 #293650063 à vendre en France

NANOMETRICS Nérabilité Spec 9010 est une dimension critique multi-capteurs (CD) hautement capable et un masque de superposition et un équipement d'inspection des plaquettes. Ce système offre une capacité unique pour mesurer, quantifier et cartographier une gamme de dimensions critiques à partir des plus beaux éléments de circuit présentés sur les masques micro-lithographiques et les surfaces de plaquettes. Les capacités de mesure vont des structures les plus simples, aussi petites que 6nm, aux structures les plus compliquées telles que les vias à grande échelle, les caractéristiques intégrées et les surcharges. De plus, l'imagerie dynamique et la reconnaissance des fonctionnalités offrent des capacités d'analyse et de précision sans pareil. NanoSpec 9010 possède aussi l'Analyse de Fluctuation et de Distorsion robuste (DFA/DFA) et les capacités d'Edge Noise Inspection (ENI), qui permettent à un large éventail de non-uniformité et d'astigmatisme d'être mesuré tant sur le masque que sur les sections de gaufrette. En tant que tel, l'unité est idéale pour les applications d'enregistrement et de recouvrement de sous-nanomètres, telles que l'enregistrement de couches d'alignement de contact et de chargement, permettant un rendement accru dans le processus de production. En mode pas à pas, NANOMETRICS Nérabilité Spec 9010 dispose d'une résolution sans précédent de 0,5 nanomètre, permettant la plus grande précision et précision possible dans la mesure de caractéristiques extrêmement minuscules aussi petites que 6 nanomètres. La machine dispose également d'un mode superposé en option, qui lui permet de fournir des mesures superposées sous-nanométriques avec une précision répétable. Avec une suite logicielle incroyablement puissante, Nérabilité Spec 9010 offre des capacités d'imagerie et d'analyse inégalées. Au cœur de l'outil se trouve la caractéristique unique d'imagerie à 360 °, qui permet de comparer et d'analyser facilement les mesures à l'échelle nanométrique dans les directions verticale et horizontale. La combinaison des capacités de capture, d'analyse et de déclaration d'images donne des résultats inégalés pour les applications de mesure de la dimension critique, de la superposition, de la distorsion et des fluctuations et du bruit de bord. En résumé, NANOMETRICS NléchSpec 9010 est un atout inégalé pour les applications d'inspection des masques de CD et de superposition et des plaquettes. Avec une résolution supérieure, des capacités de capture et d'analyse d'images, ainsi que DFA/DFA et ENI, le modèle offre un niveau de précision, de répétabilité et de fiabilité sans précédent. De plus, le Nérabilité Spec 9010 dispose d'une suite logicielle intuitive et puissante, ce qui le rend facile à utiliser et à surveiller les résultats. En tant que tel, l'équipement est le choix idéal pour les ingénieurs et le personnel de production dans les applications avancées d'inspection des masques semi-conducteurs et des plaquettes.