Occasion NANOMETRICS NanoSpec 9100 #293749160 à vendre en France

Le NANOMETRICS Nérabilité Spec 9100 est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour fournir des mesures précises et précises des petites structures sur les plaquettes et les masques. Le système est capable de capturer automatiquement des milliers d'images simultanément qui peuvent être inspectés pour détecter des défauts et d'autres caractéristiques physiques. Il est capable de comparer quantitativement les données de métrologie, les performances de classification des défauts et les capacités complètes d'analyse d'image. L'appareil utilise une caméra CMOS à ultra haute résolution et grand champ de vision (FOV) pour capturer des images allant jusqu'à 28,6 millions de pixels à 4 degrés de liberté (DOF). Ceci permet une précision de positionnement de 0,5 micron - idéal pour l'inspection de petites structures sur les plaquettes et les masques. La machine est également conçue avec des objectifs double face pour fournir des images vives avec peu de distorsion et des capacités de balayage à grande vitesse qui peuvent acquérir des données chimiométriques précises en une étape. Pour des capacités complètes d'analyse d'image, l'outil est équipé de multiples sources lumineuses et filtres de polarisation, permettant de mesurer les formes, les gradients, la rugosité et d'autres paramètres optiques. Il dispose également d'une puissante capacité de traitement d'image au microscope (MIP) qui peut fournir une analyse de bord et morphologique des caractéristiques complexes. L'actif 9100 permet l'intégration de modules de contrôle externes et d'équipements de test, permettant de créer des séquences de test personnalisées adaptées à des applications spécifiques. Il dispose également d'une interface machine humaine (HMI) pour un fonctionnement et une programmation faciles. De plus, il est compatible avec les plateformes informatiques standard telles que Windows, Mac OS et Linux. NANOMETRICS Nérabilité Spec 9100 est un outil idéal pour les mesures de haute précision et l'inspection de petites structures sur masques et plaquettes. Sa précision, sa haute résolution d'image et ses capacités complètes d'analyse d'image aident à simplifier le processus d'inspection et de quantification des petites structures. Son intégration avec des modules de contrôle externes et des équipements de test permet également de créer des séquences de test personnalisées pour des applications spécifiques, ce qui en fait un choix idéal pour les ingénieurs et les chercheurs dans le domaine des semi-conducteurs.