Occasion NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 #9197542 à vendre en France

NANOMETRICS NanoSpec AFT 210
ID: 9197542
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1993
Automatic film thickness system, 8" 1993 vintage.
NANOMETRICS Nfor Spec AFT 210 est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour fournir des capacités d'inspection haute résolution et de localisation des défauts aux fabricants de semi-conducteurs. Ce système est conçu pour détecter et inspecter les défauts sur les masques et les plaquettes qui peuvent ne pas être visibles par d'autres technologies d'imagerie. L'unité utilise des détecteurs avancés de fausses couleurs et de longueur d'onde de photons pour permettre aux utilisateurs de visualiser les détails des motifs complexes sur les masques et les plaquettes. La machine à fausses couleurs facilite la détection de très petits défauts, tandis que le détecteur de longueur d'onde photonique identifie les transitions ou les motifs créés par des défauts. Cet outil fonctionne également en mode de référence complète pour fournir une résolution plus élevée pour la détection des défauts. En outre, NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 210 peut être utilisé en combinaison avec d'autres méthodes de non-imagerie telles que le faisceau d'électrons ou les rayons X pour des capacités d'inspection encore plus avancées. L'AFT 210 dispose également d'un atout d'imagerie avancé qui permet à l'utilisateur d'étudier des images obtenues sous différents angles, permettant une analyse profonde des défauts. Le modèle utilise des technologies d'imagerie sophistiquées telles que la microscopie électronique optique et/ou à balayage pour permettre d'identifier les défauts avec une plus grande précision. NANOSPEC/AFT 210 dispose d'un équipement logiciel intégré d'analyse de données qui permet un traitement rapide des images et des données. Il est également conçu pour un partage de données efficace, qui peut se faire sur un réseau ou directement vers un PC ou un serveur. En outre, le système dispose d'une interface graphique intuitive et conviviale, permettant aux utilisateurs d'accéder rapidement et facilement aux données, sans avoir besoin d'une formation approfondie. L'unité est conçue pour être à la fois fiable et facile à entretenir, car elle est fabriquée avec des composants de haute qualité et a peu de pièces mobiles. Cela garantit des résultats précis et reproductibles, ainsi qu'une meilleure stabilité et longévité de la machine. NANOMETRICS NhouseSpec AFT 210 est également conçu pour une configuration rapide et facile, permettant aux utilisateurs d'obtenir une configuration de travail optimale rapidement et sans difficulté. Au total, NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 210 est un outil avancé, fiable et convivial d'inspection des masques et des plaquettes. Ses capacités d'imagerie haute résolution, combinées à son logiciel d'analyse de données efficace, garantissent des résultats rapides et précis. Utilisé seul ou en combinaison avec d'autres techniques d'imagerie, cet actif est idéal pour les fabricants de semi-conducteurs et d'autres applications nécessitant des inspections précises et complètes des masques et des plaquettes.
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