Occasion NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 #9284966 à vendre en France

NANOMETRICS NanoSpec AFT 210
ID: 9284966
Mask and wafer inspection.
NANOMETRICS Nfor Spec AFT 210 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Il s'agit d'un système automatisé qui offre une couverture et une analyse complètes des défauts au niveau des plaquettes, y compris les défauts des particules étrangères et indigènes. Il est capable de détecter et de mesurer des particules sur une large gamme de tailles, jusqu'au niveau du nanomètre (nm). Grâce à sa capacité d'imagerie à grande vitesse, le Nérabilité Spec peut fournir une analyse rapide des particules et des défauts au niveau des plaquettes. L'unité est constituée d'un module automatisé d'inspection des masques, d'un module d'inspection des plaquettes et d'une machine d'imagerie à grande vitesse. Le module d'inspection automatisée du masque est équipé d'un scanner laser qui balaye avec précision les bords du masque pour détecter les défauts et les particules en temps réel. Cette technologie est associée à une technologie d'imagerie spectroscopique qui permet de détecter et de mesurer des particules de différentes tailles et types. Le module d'inspection des plaquettes est utilisé pour détecter les défauts au niveau des plaquettes. Il peut détecter des particules de différentes tailles, formes et matériaux avec des propriétés différentes. Il dispose également d'un outil d'imagerie haute résolution qui fournit des images précises et détaillées des particules et des défauts. L'actif dispose également d'un module d'imagerie haute vitesse (HSI), capable de capturer et d'analyser des images de particules à des cadences allant jusqu'à 1000 images par seconde. On obtient ainsi des images de particules et de défauts à plus haute résolution, qui sont ensuite analysées pour des actions correctives potentielles. Il est également livré avec une suite d'analyses de données pour analyser les particules et les défauts détectés et générer des rapports complets. La suite comprend à la fois un rapport d'inspection statistique et visuelle, ainsi que des images détaillées qui permettent une inspection et une analyse plus poussées. En outre, le Nérabilité Spec dispose d'une interface utilisateur intuitive qui permet aux ingénieurs d'accéder facilement et de configurer ses nombreuses fonctionnalités et options. En outre, il s'agit d'un modèle évolutif qui peut être facilement mis à jour avec de nouvelles fonctionnalités et fonctionnalités au besoin. NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 210 est un équipement avancé d'inspection de masque et de plaquettes qui fournit une couverture complète pour les installations de production de semi-conducteurs. Grâce à sa capacité d'imagerie à grande vitesse, à la détection d'une large gamme de tailles de particules et à son interface utilisateur intuitive, le Nérabilité Spec AFT 210 en fait le choix idéal pour l'inspection des masques semi-conducteurs et des plaquettes.
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