Occasion NANOMETRICS NanoSpec AFT 212 #9208402 à vendre en France

ID: 9208402
Thickness measurement system Lenses: OLYMPUS .90, .65, .20.
NANOMETRICS Nérabilité Spec AFT 212 est un équipement d'inspection automatisé de masque et de plaquettes spécialement conçu pour la fabrication de semi-conducteurs, avec la technologie d'inspection la plus avancée disponible sur le marché. Ce système combine de multiples technologies d'inspection de pointe, telles que la technologie de mise au point automatique (AFT), la cartographie des vecteurs de Nérabilité Spec, et une unité d'éclairage réglable pour fournir une précision et une qualité d'image inégalées en ce qui concerne les défauts et autres anomalies sur les plaquettes microélectroniques. La technologie de mise au point automatique (AFT) consiste en une paire de caméras stéréo qui focalisent les caractéristiques nano-échelle de la plaquette sur une carte haute résolution 3D de hauteur de réflexion. Avec l'AFT, les utilisateurs sont en mesure de mesurer et d'analyser avec précision la topographie de surface des plaquettes avec une précision de sous-nanomètre. En revanche, les microscopes traditionnels à haute résolution ne peuvent mesurer que les caractéristiques de surface avec une résolution d'environ 5 nanomètres. La machine de cartographie des vecteurs Nfor Spec permet de détecter les défauts de l'échelle nano et d'autres anomalies sur Nba Spec AFT 212. Avec cet outil, un utilisateur peut mesurer les caractéristiques au niveau nano-échelle, dans les 10 % de la précision de 5nm réalisable par les microscopes traditionnels. Ces caractéristiques vont des indentations, bosses et rayures, aux ponts, vides, shorts, et plus encore. L'atout d'éclairage réglable de NANOMETRICS Nérabilité Spec AFT 212 permet aux utilisateurs de mesurer avec précision les caractéristiques de la plaquette en contrôlant la quantité de lumière, d'angle et d'intensité placée sur la surface de la plaquette. Cela permet une plus grande précision lors du balayage des petites caractéristiques nano-échelles présentes sur le masque et la plaquette. Grâce à ce modèle d'éclairage réglable, NANOMETRICS est en mesure de fournir des images de la plus haute qualité pour la détection et l'analyse des défauts. En outre, l'équipement offre une interface utilisateur facile à utiliser, permettant aux utilisateurs de contrôler divers paramètres, tels que la focalisation, le temps d'exposition, la taille de l'image et l'agrandissement. Il dispose également d'un système intégré d'analyse des données, qui permet aux utilisateurs de stocker, analyser, comparer et examiner les données acquises avec l'unité. En offrant une grande précision et fiabilité, Nérabilité Spec AFT 212 est la solution idéale pour l'inspection des masques et des plaquettes sur la chaîne de production microélectronique.
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