Occasion NANOMETRICS NanoSpec AFT 3000 #293587042 à vendre en France

ID: 293587042
Film thickness measurement system, 5" Thickness range: 200 Angstroms - 35 Microns.
NANOMETRICS Nfor Spec AFT 3000 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour les applications semi-conductrices. Il propose une imagerie arrière, un nouveau tableau basé sur des lentilles, ainsi qu'une mesure et une analyse automatisées. Le système est une mise à jour de la série AFT 2000 et offre une résolution plus élevée et une imagerie plus rapide sans compromettre la qualité. L'AFT 3000 utilise l'imagerie arrière pour une précision et une efficacité inégalées lors de l'inspection de la plaquette. Il est équipé d'une unité propriétaire de maintien de plaquettes qui permet un contrôle serré du mouvement de la plaquette lors de l'imagerie. Cela réduit les risques de défauts, de dommages et de contamination, ce qui permet une imagerie très sensible. L'AFT 3000 offre une qualité d'imagerie supérieure avec son réseau de lentilles avancé. Cette machine utilise deux lentilles sans distorsion mutuellement exclusives, fournissant des images crues jusqu'à 200 'nm. Il dispose également d'un outil de rejet de bruit amélioré et d'une optique avancée, ce qui donne un rapport signal/bruit élevé assurant des images nettes et uniformes à chaque fois. L'actif est également conçu pour automatiser les tâches de mesure des plaquettes semi-conductrices et des masques. Grâce à son interface tactile, les ingénieurs peuvent mesurer, stocker et analyser rapidement et facilement les images. En outre, les capacités avancées de traitement d'image fournissent des mesures rapides et précises à la pression d'un bouton. La résolution nanométrique et les capacités d'imagerie rapide fournies par l'AFT 3000 permettent une efficacité maximale dans le contrôle des processus. Sa qualité d'imagerie supérieure garantit que seules les plaquettes de haute qualité sont produites. Cela réduit les déchets et aide à éviter les défauts potentiellement coûteux. NANOMETRICS Le nanometrics AFT 3000 est un modèle d'inspection exceptionnel pour les applications semi-conductrices. Son imagerie haute résolution, la mesure et l'analyse automatisées, et l'optique supérieure en font un outil inestimable pour les ingénieurs et le personnel de production. Avec ses vitesses d'imagerie rapides et ses capacités automatisées, il est un choix idéal pour toute application semi-conductrice.
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