Occasion NANOMETRICS NanoSpec AFT #293615480 à vendre en France

NANOMETRICS NhouseSpec AFT (Advanced Feature Technology) de NANOMETRICS est un masque de pointe et un équipement d'inspection de wafer utilisé pour l'inspection avancée des caractéristiques et des semi-conducteurs spécialisés. Ce système offre un niveau de précision et de précision plus élevé avec un large champ de vision pour l'imagerie 2D et 3D avec une organisation intelligente des défauts. NANOMETRICS NANOSPEC/AFT dispose d'une fonction unique Smart Feature Scan (SFS) qui permet d'analyser des fonctionnalités claires et opaques avec une netteté d'image améliorée et aucun déplacement d'image. L'unité contient également un plateau optique de fond bas pour réduire le bruit de fond et les fausses alarmes. La conception optique de l'AFT offre une flexibilité aux clients pour ajuster les paramètres d'inspection, tels que les niveaux de lumière et d'obscurité, les seuils de contraste et la vitesse de réglage de la mise au point. La machine propose également plusieurs modes Die-to-Die (D2D) qui permettent aux utilisateurs d'effectuer la détection des défauts critiques, la classification et la métrologie sur chaque filière sur l'ensemble de la plaquette. L'outil est facile à intégrer dans les lignes de production existantes et fournit un support complet d'automatisation pour garantir une efficacité maximale de criblage. Il est également capable d'identifier des défauts complexes suffisamment importants pour être détectés avec un contraste de caractéristique non conducteur. NANOSPEC/AFT est conçu pour analyser les défauts des plaquettes difficiles à détecter à l'aide de microscopes électroniques optiques et à balayage, tels que les défauts de mosaïque et de sciage, les petites fosses et les rayures. L'actif a une résolution et une répétabilité élevées, ce qui le rend très efficace pour détecter les micro-caractéristiques et les défauts qui sont généralement difficiles à localiser. De plus, il comprend un microscope intégré permettant de visualiser et d'inspecter facilement les défauts du niveau de la matrice. La flexibilité et l'efficacité de NANOMETRICS Nérabilité Spec AFT permettent à ses utilisateurs d'obtenir des résultats d'inspection fiables et de qualité constante. Sa conception innovante permet également une disponibilité maximale du processus, maximisant le débit d'inspection et donc l'efficacité de la production. Ce modèle est idéal pour les inspections avancées de fonctionnalités et de semi-conducteurs spécialisés avec un coût minimal et des tracas.