Occasion NANOMETRICS Nanospec ATF210 #9170904 à vendre en France

NANOMETRICS Nanospec ATF210 est un système d'inspection des masques et des plaquettes de nouvelle génération spécialement conçu pour la fabrication de semi-conducteurs de haute performance. Plus précisément, le ATF210 est construit sur un microscope électronique à balayage (SEM), qui permet une imagerie très détaillée. Ces informations fournissent aux fabricants de semi-conducteurs les données nécessaires pour déterminer les problèmes de fabrication ou les défauts liés au procédé pendant le processus de fabrication. Le ATF210 est équipé d'un étage de pression variable unique, qui a la capacité de réduire la distance balayage-wafer, permettant ainsi une distorsion minimale du faisceau d'électrons. Cette technologie d'étage à pression variable n'est pas présente dans d'autres systèmes d'inspection de masques et de plaquettes non NANOMETRICS. L'étage de pression variable spécialisé fournit également la plus grande clarté d'image possible et la plus grande précision de taille. Nanospec ATF210 est capable d'un large éventail de techniques d'imagerie qui permettent une vue précise et détaillée des schémas de mise en page, micromasques et photomasques. De plus, le ATF210 est capable de différencier les différentes couches de matériaux à l'intérieur des piles de plaquettes ; cette capacité inestimable soutient étroitement le développement et l'optimisation des couches de dispositifs semi-conducteurs pendant la fabrication. NANOMETRICS Nanospec ATF210 possède également l'imagerie la plus haute résolution de l'industrie. Les paramètres de grossissement élevés supportés par le SEM permettent au ATF210 de capturer des images avec des niveaux de détail sans précédent. La résolution accrue des images permet de capturer les caractéristiques les plus fines du spécimen sans fausser la structure du spécimen lui-même. Nanospec ATF210 est conçu pour être aussi convivial que possible. Il dispose d'une interface graphique intuitive, permettant à l'utilisateur de se familiariser rapidement avec les fonctions et fonctionnalités des systèmes. En outre, le ATF210 est équipé d'une fonction auto-focus, qui aide à réduire le temps nécessaire à la mise en place et à la préparation du microscope. NANOMETRICS Nanospec ATF210 est également conforme aux exigences de production de volume élevé en raison de sa robustesse et de sa vitesse. Dans l'ensemble, Nanospec ATF210 est un excellent système d'inspection des masques et des plaquettes pour tout environnement de fabrication de semi-conducteurs. Son jeu de fonctionnalités robuste et ses capacités de balayage optimisées sont conçus pour fournir une imagerie fiable et précise des schémas de mise en page, des micromasques et des photomasques les plus complexes. En outre, NANOMETRICS Nanospec ATF210 a une interface utilisateur intuitive qui le rend convivial et les capacités d'imagerie la plus haute résolution donnent au système la polyvalence nécessaire pour assurer un processus de fabrication optimal.