Occasion NANOMETRICS NanoSpec M-5100UV / M-5100 #9211233 à vendre en France

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NANOMETRICS NanoSpec M-5100UV / M-5100
Vendu
ID: 9211233
Style Vintage: 1995
Film thickness measurement system 1995 vintage.
NANOMETRICS NhouseSpec M-5100UV/ M-5100 est un masque multi-capteurs polyvalent et un équipement d'inspection des plaquettes qui est conçu pour donner aux utilisateurs des résultats efficaces avec une précision imbattable. Il fournit la résolution spatiale la plus élevée et l'analyse de caractéristiques la plus précise disponible dans l'industrie. Le système combine les mesures de fonctionnalités, la métrologie CD et les images à faible bruit en un seul instrument convivial. Quatre scanners laser distincts, très efficaces et personnalisables pour une grande variété d'applications d'inspection des masques et des plaquettes, sont inclus dans Nérabilité Spec M-5100UV/ M-5100. Ces quatre appareils de balayage sont le Nanofocus X-ray, le Mask-to-Wafer Unit, le Overlay/Flatness Machine, et le Reticle Defect Tool. Le scanner à rayons X Nanofocus fournit des images jusqu'à 15nm avec son atout d'imagerie haute résolution. Ce modèle permet la reconnaissance et l'appariement automatisés des fonctionnalités, ce qui lui permet d'être très efficace dans l'identification et la caractérisation des caractéristiques. L'équipement Mask-to-Wafer est capable de comparer rapidement le profil CD/SD de chaque masque et wafer, puis d'évaluer avec précision les différences entre les deux. Il peut également effectuer des inspections de masques et de plaquettes en temps réel. Cela permet des comparaisons rapides et efficaces des masques et des plaquettes. Le système Overlay/Flatness est conçu pour accélérer l'inspection des masques et des plaquettes avec la planéité et la précision de superposition. L'unité mesure les différences entre les deux pour différentes caractéristiques et tailles. Cela élimine la nécessité de mesures manuelles fastidieuses. Le Reticle Defect Machine consiste en un algorithme de reconnaissance de motifs qui est très précis dans la détection et l'identification des défauts sur les réticules. Il peut également autosave les défauts détectés, permettant aux utilisateurs de gagner du temps et des ressources lors de l'inspection des réticules. Dans l'ensemble, NANOMETRICS Nérabilité Spec M-5100UV/ M-5100 est un outil très efficace et précis qui peut aider les utilisateurs à identifier et caractériser rapidement et avec précision les caractéristiques sur les masques et les plaquettes. Ses quatre appareils de balayage offrent la plus haute résolution spatiale avec une analyse précise des caractéristiques, ce qui en fait le choix idéal pour une inspection efficace des masques et des plaquettes.
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