Occasion NANOMETRICS NanoSpec TM 8000X #9260053 à vendre en France

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ID: 9260053
Style Vintage: 1999
Measurement system Film stacks back / front: Poly, oxide and multilayer Fourier Transform Infrared (FTIR) film analysis Visible and UV reflectometer Sophisticated modeling algorithms Submicron precision XY table for silicon substrates: Up to 200 mm High throughput multitasking robotics SECS II / GEM Compliance FTIR Module laser Touch screen monitor 1999 vintage.
NANOMETRICS Nanometrics TM 8000X est un équipement d'inspection de masque et de wafer de pointe. Il est conçu pour les fabricants et la recherche et le développement dans l'industrie des semi-conducteurs. Ce système offre une variété d'outils et de fonctionnalités, ce qui le rend adapté aux tâches d'inspection les plus exigeantes. L'optimisation de Nérabilité Spec TM 8000X est réalisée à des fins de contrôle des processus et de recherche. Pour accomplir des résultats reflétants optimaux, l'unité est équipée avec une chambre d'inspection de 25.6cm-diamètre, 30X la lentille objective et une source de lumière brightfield. Les composants sophistiqués de contrôle matériel et logiciel sont combinés pour obtenir de multiples plages de luminance vidéo et une gamme de paramètres de champ de vision, permettant des mesures jusqu'à 20 μ m. NANOMETRICS Nérabilité Spec TM 8000X intègre les derniers développements de la technologie de manutention des échantillons. Il est équipé d'un moteur à plaquettes et d'un mécanisme de manutention des plaquettes pour assurer un positionnement des échantillons reproductible et précisément centré. La machine de positionnement XYZ est pilotée par ordinateur et utilise un outil de positionnement linéaire pour simuler la position Z des échantillons pour l'acquisition d'images. Les incréments X, Y et Z Stage sont de 0,1 μ m ou 0,2 μ m lorsqu'ils sont configurés pour une mise au point plus fine. De plus, Nérabilité Spec TM 8000X offre une variété d'outils d'amélioration d'image. Il s'agit notamment de la correction de soustraction filtrée en deux dimensions (2D FSC), de la moyenne des trames, du réglage du contraste des masques (MCA), de la réduction du bruit, ainsi que d'un actif avancé de capture d'image. Ces fonctionnalités permettent aux utilisateurs de réduire le bruit d'image et de mesurer leurs échantillons avec plus de précision et de répétabilité. NANOMETRICS Le Nanometrics TM 8000X est également conforme à divers protocoles et normes de l'industrie. Le modèle prend en charge SEMI Standard Specification E116 Particle Contamination Inspection. Le moteur automatisé intégré de classification des défauts satisfait à la norme. En utilisant Nérabilité Spec TM 8000X, les entreprises peuvent s'assurer que tout masque ou plaquette inspecté est effectué avec précision et aux normes les plus élevées possibles. Non seulement cela permettra de gagner du temps et de l'argent, mais cela donnera aussi aux entreprises la confiance que leur produit répondra aux exigences de l'industrie et aura le résultat souhaité.
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