Occasion NANOMETRICS NanoSpec VT 210 #293700335 à vendre en France

NANOMETRICS Le nanometrics VT 210 est un masque haute résolution et un équipement d'inspection des plaquettes conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Il offre une inspection semi-automatisée de haute précision des masques et plaquettes critiques, permettant la détection, l'identification et la correction rapides des défauts. Le système est idéal pour des applications dans la fabrication de semi-conducteurs avancés, l'analyse des défaillances et l'excellence de la conception. L'appareil dispose d'un moniteur de 13,5 pouces et d'une surface de déplacement de 250mm à l'étage supérieur, et offre des images haute résolution des caractéristiques optiques dans la gamme spectrale de l'ultraviolet extrême (EUV) à travers l'ultraviolet à vide (VUV). Le VT 210 est équipé d'une gamme d'optiques spéciales, telles que l'optique UV avancée, qui permet l'imagerie de fonctionnalités de tailles aussi petites que 20nm, et la microscopie aux rayons X à faible dose, fournissant des capacités d'imagerie de tailles de fonctions jusqu'à 10nm. La machine peut être programmée avec des scans répétables, et l'utilisateur peut analyser interactivement les défauts en temps réel sans avoir à attendre que les scans soient terminés. L'ultra compacte VT 210 dispose également d'une caméra intégrée et d'une plate-forme d'architecture ouverte, avec une bibliothèque de paramètres présélectionnés qui permettent la programmation avancée et la personnalisation de l'outil. Il peut être utilisé pour diagnostiquer des problèmes, évaluer les changements de processus, ou effectuer l'optimisation de la conception. De plus, l'utilisateur peut personnaliser les paramètres d'inspection pour des applications spécifiques, et peut inspecter des échantillons sans exposition supplémentaire. Pour les applications Masque et Wafer, le VT 210 offre l'identification, la classification et la priorisation automatisées des défauts. Il peut également capturer et enregistrer des images de défaut = permettant une analyse et une caractérisation rapides des défauts. Pour garantir une grande précision, l'utilisateur peut sélectionner plusieurs fenêtres d'analyse arbitraires, et l'actif peut même différencier entre les défauts propres, réparables et contaminés/délaminés. Dans l'ensemble, le VT 210 est un modèle avancé d'inspection des plaquettes et des masques conçu pour faciliter la fabrication de semi-conducteurs, l'analyse des défaillances et l'excellence de la conception. Avec son optique UV avancée, sa microscopie aux rayons X à faible dose et ses capacités d'analyse interactive des défauts, le VT 210 offre également une excision automatisée des défauts, une classification des défauts et une hiérarchisation des défauts. En bref, le VT 210 fournit une inspection optique détaillée et permet l'identification et la résolution rapides et précises des défauts.