Occasion NAPSON RT-70 #9156821 à vendre en France

NAPSON RT-70 est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour l'inspection des paramètres critiques dans la conception et la production d'IC. Il offre une grande précision, vitesse et répétabilité pour le bossage des plaquettes, l'alignement, la lithographie, la métrologie et l'inspection des défauts. Le système intègre un capteur optique très avancé avec une tête de balayage à grande vitesse et une plate-forme logicielle Corvis-7. Le capteur optique documente et interprète les données en temps réel à travers de multiples technologies, telles que la spectroscopie plein champ et le balayage en ligne, et offre des mesures de la topographie de la plaquette, de la ligne et du pas, et des défauts. La tête de balayage haute vitesse dispose d'un large champ de vision et de haute résolution, ce qui permet une inspection rapide sur place des IC et une réduction significative du temps total d'examen des défauts. La plate-forme logicielle Corvis-7 offre une automatisation du processus d'inspection orientée vers l'utilisateur avec une interface graphique intuitive qui permet une capture d'image facile, l'analyse de données et l'exportation de données. Le logiciel permet également de personnaliser tous les niveaux de paramètres de métrologie pour répondre aux besoins des clients. RT-70 est conçu pour répondre aux exigences de l'industrie des semi-conducteurs en matière de vitesse, de précision et de répétabilité. Avec sa grande capacité de manutention des plaquettes, la machine peut inspecter jusqu'à 12 plaquettes à la fois avec jusqu'à huit points de focalisation. Cela garantit que toutes les bosses, les contacts, les lignes et les caractéristiques sont inspectés à fond. La capacité d'alignement du masque de l'outil est également exceptionnellement précise et répétable, offrant une meilleure performance de superposition que sous-45nm. L'actif est conçu pour des environnements de salle blanche et est conforme à diverses normes internationales, y compris celles de SEMI et MIL-STD. En outre, NAPSON RT-70 modèle est compatible avec une variété de logiciels d'inspection standard de l'industrie, permettant une intégration rapide dans les systèmes de traitement des plaquettes existants. RT-70 équipement est la solution idéale pour des applications de masque et d'inspection de plaquettes très précises et reproductibles. Il combine la haute précision et la haute vitesse de la tête de balayage, la spectroscopie plein champ et les GDF intuitifs pour la capture, l'analyse et l'exportation de données. Avec son interface graphique intuitive et ses fonctionnalités de qualité semi-conductrice, le système NAPSON RT-70 est un excellent choix pour la fabrication et l'inspection des semi-conducteurs.