Occasion NIDEC TOSOK TWi-5000 #9280887 à vendre en France

NIDEC TOSOK TWi-5000 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour vérifier les défauts et les imperfections des plaquettes et masques semi-conducteurs. TWi-5000 système est équipé des dernières avancées en microscopie optique, microscopie infrarouge et ultraviolette, alignement automatisé des plaquettes, résolution des sous-microns, détection et classification automatisées des défauts, génération de cartes 3D et analyse professionnelle des défauts. L'unité est composée d'un microscope à projection haute précision et haute résolution, capable d'inspecter des plaquettes et des masques avec un champ de vision allant jusqu'à 50 mm. Sa conception optique spéciale lui permet d'accéder aux défauts et imperfections avec une netteté exceptionnelle. La machine NIDEC TOSOK TWi-5000 est capable de détecter des défauts de taille aussi petite que 0,1 micron. Il peut également classer le type et la nature des défauts, avec la possibilité d'identifier automatiquement les défauts potentiels à l'aide d'algorithmes sophistiqués d'analyse d'image. Il est également équipé de capacités automatisées d'alignement des plaquettes, lui permettant d'analyser rapidement les surfaces des plaquettes pour obtenir des images à haute résolution. Cela permet une inspection et une analyse des défauts plus rapides. TWi-5000 dispose également de la génération de cartes 3D, qui crée un modèle numérique tridimensionnel de la surface de la plaquette. Ceci est précieux pour le marquage et le tri des défauts, ainsi que la comparaison avec plusieurs plaquettes. Enfin, NIDEC TOSOK TWi-5000 comprend la suite logicielle d'analyse professionnelle des défauts (PDA), conçue pour la caractérisation et la vérification des défauts. Cette suite logicielle intuitive comprend des statistiques à vie, la comparaison des défauts avec plusieurs plaquettes, et elle peut également générer des rapports pour la certification et la conformité. En conclusion, TWi-5000 est un outil avancé d'inspection des masques et des plaquettes qui offre la dernière technologie en matière de microscopie optique, d'alignement automatisé des plaquettes, de résolution des sous-microns, de détection et de classification automatisées des défauts, de génération de cartes 3D et d'analyse professionnelle des défauts. Il est capable de détecter de petits défauts avec une grande précision, ce qui en fait un outil précieux pour les procédés de fabrication et d'inspection des semi-conducteurs.