Occasion NIHON DENSAN TWi-5000 #9293547 à vendre en France

NIHON DENSAN TWi-5000 est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour fournir une inspection optique fiable et précise des plaquettes à motifs, masques et substrats photomasques. Ce système est spécifiquement conçu pour fournir l'analyse automatique, la détection et la correction des défauts dans les produits dérivés des procédés de fabrication des semi-conducteurs. TWi-5000 unité est équipée d'une gamme de méthodes de détection optique avancées et de systèmes de contrôle. Cette machine est construite sur un étage de commande de mouvement de haute précision permettant un balayage automatique pour générer jusqu'à 144 images par seconde dans un grand champ de vision, permettant une inspection précise et rapide. NIHON DENSAN TWi-5000 utilise des technologies d'apprentissage profond très efficaces pour analyser le profil des défauts des dispositifs semi-conducteurs et des photomasques. Avec ces prédictions, une analyse plus approfondie du défaut peut être faite, assignant le modèle une note. Cela fournit une rétroaction à l'utilisateur pour l'aider dans l'évaluation efficace, les décisions politiques, et les stratégies d'amélioration autour de la qualité des produits. L'outil comprend un actif de contrôle de film de plaquette qui permet aux utilisateurs de vérifier la qualité d'une plaquette entière avec une seule exposition ou une seule image pleine surface. Ce modèle est équipé d'un processus automatisé pour mesurer et évaluer les caractéristiques telles que la taille, le type et le nombre des défauts, ainsi que pour vérifier les écarts de données. Cet équipement nécessite également une entrée minimale de l'utilisateur par son processus automatisé. TWi-5000 a amélioré les capacités d'analyse des défauts, ce qui permet aux utilisateurs d'identifier et d'analyser rapidement les défauts de la microlithographie et de la production d'IC. Ce système est équipé d'un logiciel d'analyse statistique de pointe qui peut détecter et analyser divers motifs de défauts, tels que : les grosses fosses isolées particules et rayures et les défauts d'impression combler les erreurs de motifs et de désalignement. L'unité supporte également une analyse intégrée de correspondance de motifs, qui peut être utilisée pour comparer le motif de masque au motif idéal. Ceci fournit un moyen efficace d'identifier et d'analyser tout type de décalage ou de désalignement du motif dans le dispositif. Avec ses caractéristiques avancées et sophistiquées, NIHON DENSAN TWi-5000 fournit des processus complets d'inspection des masques et des plaquettes, ce qui permet de produire efficacement des dispositifs semi-conducteurs et des circuits intégrés. La capacité de cette machine à réduire les erreurs et les défauts entraîne une amélioration de la qualité du produit et des économies de coûts.