Occasion NIKON Optistation 3 #62571 à vendre en France

NIKON Optistation 3 est un équipement intégré d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour l'inspection et la métrologie des motifs de semi-conducteurs à haut débit et haute résolution. Ce système est utilisé pour des applications de production et de recherche, comme la mesure automatisée des dimensions critiques (CD), l'examen des défauts optiques (ODR) et les mesures de superposition. Les optiques avancées de NIKON OPTISTATION-3 fournissent des images à haute résolution avec moins de 1 Angstrom/µm de profondeur de champ et une linéarité de sous-2 % à toutes les longueurs d'onde. L'unité produit de superbes images de contraste élevé qui facilitent l'excellent motif et l'examen des défauts avec un jugement précis. L'application RLL permet aux opérateurs de vérifier les erreurs de concordance et les défauts de motif avec une très grande précision. Il fournit également des images optiquement inversées en champ sombre pour aider à distinguer les défauts de motif des défauts de particules aléatoires. La machine utilise un outil de traitement automatisé des étapes à deux étages pour un positionnement précis, répétable et rapide du motif par rapport à des cibles à longue portée et des emplacements spécifiques. L'actif intègre également un mode de centrage automatisé des plaquettes, permettant un centrage rapide et facile d'une plaquette pour l'inspection ou la métrologie. Le contrôleur intégré utilise une interface utilisateur hautement personnalisée et intuitive, permettant à l'utilisateur de configurer les tâches d'inspection et de métrologie plus rapidement. Le contrôleur dispose également de fonctions de débogage avancées et d'une capacité d'enregistrement des modèles, permettant aux utilisateurs de dépanner les erreurs rapidement et efficacement. L'équipement est capable de s'intégrer avec des outils en ligne d'autres fournisseurs, permettant des résultats rapides, efficaces et transparents. Avec le support disponible 24/7, la satisfaction des clients et des résultats de haute qualité est garantie. Optistation 3 est l'outil essentiel pour l'inspection et la métrologie de motifs semi-conducteurs dans un environnement de production. Ses caractéristiques avancées, telles que l'optique très fiable, le centrage automatisé des plaquettes et le double étage, en font un système incontournable pour toute ligne de processus semi-conducteur. Avec OPTISTATION-3, les ingénieurs semi-conducteurs peuvent être assurés d'avoir les meilleurs résultats, peu importe l'application.