Occasion NIKON Optistation 3 #9065307 à vendre en France
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ID: 9065307
Style Vintage: 1991
Wafer inspection system
Missing:
Some side panels and optics
1991 vintage.
NIKON Optistation 3 est un masque haute performance et un système d'inspection des plaquettes conçu pour la fabrication avancée de semi-conducteurs. Il offre le plus haut niveau de performance et de cohérence dans la détection des défauts sur toute la zone d'un masque ou d'une plaquette. NIKON OPTISTATION-3 est bien adapté pour inspecter des circuits de haute précision comme ceux que l'on trouve dans les processeurs avancés et les puces mémoire. Optistation 3 utilise une technologie d'éclairage avancée, y compris l'éclairage en champ sombre et en demi-champ, combinée à une optique haute définition et à des techniques avancées de traitement du signal pour obtenir une résolution sous-micron. La conception est capable de détecter des particules jusqu'à 0,12 microns, et dispose d'un détecteur de lumière scatter spécialisé pour améliorer la détection des défauts de surface. Il dispose également de 8 bits de mise en évidence numérique et de réglage automatique de la teinte pour une meilleure reproduction des couleurs. OPTISTATION-3 offre un débit élevé avec son champ de vision de 50nm et sa capacité de conduite à grande vitesse, permettant aux inspecteurs d'analyser rapidement de plus grandes zones avec précision et précision. De plus, une interface utilisateur intuitive avec affichage de forme d'onde et jugement automatisé des défauts permet un fonctionnement rapide et facile du système. NIKON Optistation 3 propose également une détection avancée des contaminants pour une propreté optimale des surfaces, ainsi qu'une analyse des matériaux étrangers avec reconnaissance automatisée des débris pour l'inspection des implants, de la résistance et des particules. En outre, le système comprend également le traitement intégré de l'image, des mesures à l'écran, ainsi que l'analyse des données après inspection et l'exportation vers un PC externe. NIKON OPTISTATION-3 offre des performances et une fiabilité exceptionnelles pour l'inspection des masques semi-conducteurs et des plaquettes. Son optique haute performance combinée à une technologie d'éclairage avancée et à une interface utilisateur intuitive en font un choix idéal pour les puces avancées. Son débit élevé, son jugement automatisé des défauts et ses capacités d'analyse des matériaux étrangers en font également un outil puissant pour la fabrication et l'inspection de puces de précision fine.
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