Occasion NIKON Optistation III #293629231 à vendre en France

NIKON Optistation III est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes haut de gamme conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Il offre une gamme complète de capacités de mesure et d'analyse pour l'inspection des masques et des plaquettes et est capable de fonctionner jusqu'à 250 plaquettes par heure. Il dispose d'un équipement entièrement automatisé comprenant un scanner haute vitesse, un processeur d'images, un analyseur d'images et une station de métrologie de haute précision. Ce système fournit une unité complète de contrôle des processus comprenant une machine de mesure de superposition et de plaquette de haute précision, une analyse des défauts entièrement automatisée et des systèmes de déclaration. NIKON OPTISTATION-III est basé sur un outil d'imagerie optique avancé doté d'un capteur CCD haute résolution et d'un zoom. Le capteur CCD est capable de capturer des images microscopiques d'un masque ou d'une plaquette en moins d'une seconde. Le modèle de lentille de zoom permet une analyse précise de caractéristiques aussi petites que 5 μ m, permettant ainsi la détection de très petits défauts. Optistation III comprend également un logiciel qui permet l'analyse automatique et la classification des images de masques et de plaquettes. OPTISTATION-III fournit également un équipement de mesure de superposition et de plaquette de haute précision. Ce système peut mesurer avec précision les motifs sur le masque et la plaquette après inspection, ce qui permet de détecter tout changement de position et de taille qui pourrait se produire. En outre, l'unité est équipée d'un logiciel de métrologie avancé qui fournit une analyse 3D précise des motifs mesurés. Le logiciel fournit également un ensemble complet d'outils de rapport pour analyser et comparer les résultats des inspections. NIKON Optistation III fournit également une fonction d'analyse automatisée des défauts. Cette fonction inspecte automatiquement les masques et les plaquettes pour détecter divers types de défauts et peut ensuite fournir des informations détaillées à leur sujet. La machine comprend également une variété de fonctions d'analyse manuelle, y compris les mesures manuelles, la classification manuelle des défauts et l'examen critique des défauts. En conclusion, NIKON OPTISTATION-III fournit une gamme complète de capacités pour les utilisateurs de l'industrie des semi-conducteurs. Il permet une inspection rapide et précise des masques et des plaquettes, avec une analyse détaillée et des rapports. L'outil comprend également un équipement de mesure de superposition et de wafer de haute précision, une analyse automatisée des défauts et des fonctions d'analyse manuelle. Toutes ces fonctionnalités permettent d'assurer une inspection de haute qualité et font d'Optistation III un choix idéal pour l'inspection des masques et des plaquettes.