Occasion NIKON Optistation VII #293644229 à vendre en France

ID: 293644229
Wafer inspection system.
NIKON Optistation VII est un équipement d'inspection de masque et de wafer à la fine pointe de la technologie conçu pour répondre au niveau de précision élevé nécessaire à la fabrication de semi-conducteurs de pointe. Basé sur la technologie d'imagerie révolutionnaire NIKON, ce système peut détecter même les défauts les plus insaisissables. Optistation VII intègre plusieurs composants haut de gamme et offre des capacités avancées pour répondre aux exigences exigeantes de l'inspection moderne des masques. Son automatisation avancée, ses méthodes de détection de champ lumineux et sa technologie d'imagerie permettent à NIKON Optistation VII d'identifier et de localiser automatiquement les défauts. Grâce à son mode Image Matching, il peut fournir aux utilisateurs des informations supplémentaires sur la forme, la taille et la nature des défauts détectés. Optistation VII se compose d'une architecture modulaire pour l'évolutivité et l'entretien facile. Son unité optique de pointe se compose d'un objectif à ouverture numérique élevée (NA), d'une source variable d'éclairage intégré et d'un appareil photo numérique à large plage dynamique. NIKON Optistation VII assure un champ d'imagerie uniforme sur une large gamme uniforme de sensibilité et de contraste. La fonctionnalité automatisée avancée de la machine élimine le besoin d'opérations manuelles fastidieuses. Il détecte et localise automatiquement même les défauts les plus infimes. Les algorithmes de détection de défauts embarqués en temps réel d'Optistation VII permettent de détecter et d'examiner tous les types de défauts liés au masque. De plus, son option de lissage réduit les fausses alarmes en éliminant les artefacts et le bruit des images. NIKON Optistation VII offre également plusieurs options de rétroaction et de reporting informatives. Son option de rapport complet contient un large choix de caractéristiques, y compris le rapport de surface défectueux, la taille et la forme des défauts, les défauts majeurs et les défauts mineurs listes détaillées, ainsi qu'un rapport de réussite/échec. En outre, il dispose d'un outil d'éclairage de bas niveau (LLGS) pour l'examen des défauts latéraux et d'un scan Live Line pour l'analyse de recouvrement de masque. Optistation VII offre aux utilisateurs une efficacité de flux de travail améliorée, une précision et une fiabilité puissantes, ainsi que l'évolutivité nécessaire pour répondre aux tâches d'inspection des semi-conducteurs les plus exigeantes. Avec ses capacités robustes, il fournira aux utilisateurs les moyens d'atteindre les niveaux les plus élevés de masque sans défaut et d'inspection des plaquettes.
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