Occasion OSI Microvision 15 #5921 à vendre en France
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ID: 5921
Taille de la plaquette: 4", 5"
Wafer inspection system, 4" and 5" with Nikon optics.
OSI Microvision 15 est un équipement complexe et puissant d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour détecter, analyser et catégoriser les défauts sur une gamme de dispositifs semi-conducteurs. Ses algorithmes avancés et ses capacités d'imagerie lui permettent d'identifier et de classer automatiquement les défauts réparables et irréparables, permettant ainsi des opérations de maintenance et d'assurance qualité rapides et précises. Le système comprend une unité de transport de plaquettes motorisées et synchronisées, un microscope haute résolution, un sous-système d'acquisition et un sous-système de détection de défauts. Le microscope, avec une capacité de zoom de 5x, est capable d'agrandir des défauts jusqu'à 1000x. Cela permet à l'opérateur de voir et d'enregistrer des défauts dans des détails sans précédent, aussi petits que 0,20 microns ! Le sous-système d'acquisition, en liaison avec le microscope, permet l'imagerie de l'ensemble de la plaquette en un seul balayage. Il utilise plusieurs caméras CMOS et CCD multiples et la technologie d'imagerie de champ lumineux, de champ sombre et d'angle oblique pour capturer avec précision les détails et les nuances des caractéristiques des plaquettes. Le sous-système de détection des défauts est une puissante combinaison de technologies de reconnaissance des motifs, des produits de détection des défauts sur le terrain uniques de ProgRama et des algorithmes de vision automatique exclusifs de Metrosight. Ces technologies permettent à la machine d'effectuer des inspections, d'identifier les défauts de motif, de classer les défauts et de les séparer pour une analyse plus approfondie. Les données collectées sont ensuite analysées et classées par l'outil de catégorisation des défauts de l'outil, permettant un tri rapide et précis des défauts clés. Ensuite, les données sont exportées vers une station d'examen des défauts basée sur des correctifs, qui fournit à l'opérateur des images détaillées des défauts, une analyse des données et des rapports de classification. Grâce aux outils de déclaration, les opérateurs sont en mesure de générer des rapports complets avec des informations réalisables pour identifier et documenter les plaquettes défectueuses rapidement et avec précision. Dans l'ensemble, Microvision 15 constitue un atout complet pour l'inspection automatisée des masques et des plaquettes. Grâce à ses technologies avancées d'imagerie et de détection des défauts, il peut identifier, mesurer et catégoriser avec précision tous les défauts possibles. En outre, il offre de puissantes capacités de déclaration qui permettent aux opérateurs d'analyser rapidement et avec précision les défauts et de prendre des mesures correctives. C'est le choix parfait pour toute opération d'assurance qualité haute performance.
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