Occasion PARLEC P2500A-0387 #9266042 à vendre en France

ID: 9266042
Style Vintage: 2010
System 2010 vintage.
Le masque PARLEC P2500A-0387 est un dispositif de haute précision utilisé pour vérifier l'état des matrices, plaquettes, cartes de circuit et autres matériaux utilisés dans la fabrication des circuits intégrés (IC). Il offre une inspection haute résolution avec une taille d'image de 20 microns, et est capable de détecter des défauts aussi petits que 0,5 microns. Il est conçu avec un système d'imagerie avancé qui combine l'utilisation de la microscopie optique binoculaire et sans contact avec la reconstruction 3D basée sur la triangulation. Cela lui permet de capturer des images détaillées de toute la surface d'une plaquette ou d'une carte de circuit, et est capable de détecter des défauts aussi petits que 0,5 microns. L'unité dispose de deux modes : manuel et automatique. En mode manuel, un joystick manuel permet aux utilisateurs d'ajuster manuellement à la fois la position x-y de l'appareil et le foyer. En mode automatique, une fonction de « verrouillage de la cible » garantit que le dispositif restera centré sur l'image pertinente même en déplaçant la position du dispositif. De plus, la machine dispose d'une reconnaissance logicielle qui lui permet de détecter les motifs, les bords et les coins du matériel inspecté. P2500A-0387 est conçu pour être facile à utiliser et à utiliser. Son stockage d'images intégré permet aux utilisateurs de parcourir, stocker et revoir les images inspectées directement à partir du panneau de contrôle. De plus, la technologie Ethernet intégrée permet de connecter l'appareil à un réseau de télécommande et d'analyse de données. L'outil PARLEC P2500A-0387 masque et wafer inspection offre une plate-forme robuste et des performances pour l'inspection des IC. Son imagerie haute résolution, son optique précise, sa grande précision et son interface intuitive en font un choix idéal pour l'inspection de la filière, de la plaquette et du circuit. En permettant aux utilisateurs de détecter facilement et rapidement les défauts de ces matériaux, l'actif contribue à améliorer la qualité et la fiabilité des IC à un coût sensiblement moindre.
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