Occasion RAVELLC NM450 #9358671 à vendre en France

RAVELLC NM450 est un équipement d'inspection DUV avancé conçu pour le haut débit et la haute résolution. Il réalise efficacement l'imagerie de niveau de plaquette et monocouche des processus semi-conducteurs avancés avec une précision ultra-élevée. Le système dispose d'une optique de zoom à 5 niveaux de sensibilité élevée pour optimiser les niveaux de bruit du signal et maximiser la couverture du champ et déceler les défauts à l'avant. La capacité de zoom 5x combinée à une phase d'inclinaison et de décalage permet également d'améliorer la sensibilité de détection sur tout le champ de la puce. De plus, un mode super haute résolution permet d'identifier et d'analyser les défauts de petit pas. La machine est également livrée avec des algorithmes intégrés qui aident à l'efficacité du flux de travail en extrayant, stockant et affichant automatiquement les données critiques du processus d'inspection. L'outil est équipé d'un atout d'alignement à grande vitesse qui aide à identifier rapidement des emplacements de mort, même sur des plaquettes très complexes, ce qui entraîne des erreurs d'opérations libres. De plus, la capacité de balayage multi-zones offre aux utilisateurs une grande flexibilité en leur permettant d'optimiser le nombre de zones et la résolution de balayage d'alignement en fonction de leurs exigences de processus spécifiques. Cela élimine en outre les cycles de test inutiles et simplifie le temps d'installation dans la fabrication. NM450 dispose également d'un modèle de détection Mura intégré (IMDS) innovant. Cette technologie de pointe utilise une combinaison de capture d'image avancée, d'algorithmes automatisés et de traitement informatique ultra-rapide pour identifier et rejeter les rejets d'une manière qui a été impossible jusqu'à ce point. En outre, l'équipement met également en œuvre un module d'examen post-inspection entièrement intégré et des outils de diagnostic pour aider les utilisateurs à identifier et à traiter rapidement les défauts problématiques. Dans l'ensemble, RAVELLC NM450 est un système d'inspection Masque et Wafer puissant et fiable qui apporte des performances, une précision et une vitesse inégalées à la production de semi-conducteurs. Il est hautement évolutif et permet aux utilisateurs de personnaliser les paramètres pour répondre à leurs exigences de processus les plus exigeantes, tandis que son interface intuitive et ses capacités automatisées avancées le rendent facile à utiliser et à réduire les coûts. Avec sa précision, sa vitesse et son rapport coût-efficacité supérieurs, NM450 est une solution idéale pour les fabricants de semi-conducteurs.