Occasion RMB-TECHNOLOGY LSiS 300 #9227862 à vendre en France

RMB-TECHNOLOGY LSiS 300 est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs. Il est capable de détecter des problèmes de particules, de défauts, de lignes et de motifs sur toute une gamme d'applications, y compris les masques, les plaquettes et les films minces tels que les photomasques, les LCD, les MEMS et les OLED. Le LSiS 300 est équipé d'une caméra à haute résolution. Cette caméra haute résolution est capable de détecter des problèmes de particules, de défauts, de bord de ligne et de motifs dans une gamme d'applications. Le système est convivial et est capable de plusieurs modes de fonctionnement, y compris l'inspection des défauts, la mesure du profil ligne-bord et le classement des défauts. L'unité est conçue pour fournir une grande précision sur une gamme de résolutions et de tailles d'échantillonnage. La machine est équipée d'un puissant algorithme d'inspection, capable de détecter des milliers de particules, de défauts, de lignes et de motifs en un seul balayage. L'outil est également capable d'analyser la taille, la forme et l'orientation de tout défaut. De plus, l'actif est capable de recueillir et d'analyser des données à partir de multiples scans. Le modèle est conçu avec de puissants algorithmes de traitement d'image qui permettent la détection automatisée des défauts. Les algorithmes de traitement d'image peuvent mettre en évidence les défauts et les classer comme particules et vides en utilisant une variété de techniques. De plus, ces algorithmes permettent de détecter des bords de ligne avec une grande précision et d'extraire des caractéristiques telles que des formes, des tailles, des espacements, etc. RMB-TECHNOLOGY LSiS 300 est conçu avec un environnement entièrement programmable qui permet aux utilisateurs de définir plusieurs paramètres d'inspection, allant de la taille des particules et des défauts à la largeur des bords de ligne, etc. L'équipement dispose également d'une large gamme d'options de sortie de données, y compris le texte, CSV, BMP et d'autres formats d'image. Cela permet aux utilisateurs d'analyser facilement les données du système. Le LSiS 300 est adapté à diverses applications industrielles, telles que l'inspection des masques et des plaquettes, la métrologie, l'inspection de la matrice, la topographie 3D, l'analyse des défaillances, et bien d'autres. Cette unité est très fiable et robuste, et est capable de fournir des résultats fiables. La machine offre une solution rapide, haute précision et peu coûteuse pour l'inspection d'une gamme d'applications de semi-conducteurs.