Occasion RUDOLPH / AUGUST AXI-930 #9107569 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST AXI-930 Mask & Wafer Inspection Equipment combine la technologie d'imagerie avec un logiciel sophistiqué de reconnaissance de motifs pour soutenir l'inspection rapide et efficace des masques et plaquettes à semi-conducteurs. Utilisant une technologie de pointe de contrôle optique et de mouvement, AUGUST AXI-930 inspecte jusqu'à 9 champs de « site de die » par champ de microscope à travers une plaquette entière ou un masque. La modification automatique de RUDOLPH AXI 930 permet l'intégration dans différents systèmes d'automatisation en usine. AXI 930 est équipé d'un système pulsé de balayage de la ligne de diode laser à 360 °, d'une inspection visuelle et d'une unité d'alimentation en courant MOSFET (transistor à effet de champ) à semi-conducteur d'oxyde métallique, fournissant aux utilisateurs une seule machine pour l'inspection de surface et de bord. RUDOLPH/AUGUST AXI 930 dispose également d'un module Amplification Drive variable, capable de déplacer automatiquement le grossissement de l'image d'un minimum de 40X jusqu'à un maximum de 500X selon l'échelle de l'objet. La compensation de dérive intégrée d'AXI-930 maintient la focalisation optimale de l'image, quelle que soit la façon dont le chargement de la plaquette est affecté par la manutention manuelle ou tout changement de position de la plaquette dû aux gradients thermiques dans la surface de la plaquette ou du masque. Le logiciel pilote d'acquisition et de traitement d'images de l'outil, conçu pour fonctionner sur des PC connectés Ethernet, offre des capacités complètes d'acquisition, d'affichage et de traitement d'images. les images peuvent être stockées sous forme d'images uniques ou sous forme de bitmap à images multiples. Le module de reconnaissance de motifs d'AUGUST AXI 930, disponible en deux versions, prend en charge les algorithmes FDTD (Finite Difference Time Domain) et Hough Transform, et est équipé de plusieurs algorithmes de filtrage et de réduction du bruit pour détecter les défauts sur les dispositifs semi-conducteurs. RUDOLPH AXI-930 dispose également de traitement d'image en temps réel et de reconnaissance des défauts, ce qui permet à l'actif de réagir rapidement aux changements de propriétés des défauts. De plus, l'application logicielle MetaCam est capable de produire des images imprimables de défauts dans une variété de formats tout en documentant automatiquement les résultats de chaque cycle d'inspection. En résumé, RUDOLPH/AUGUST AXI-930 Mask & Wafer Inspection Model combine des logiciels sophistiqués d'analyse d'image et de reconnaissance de motifs avec une technologie avancée de contrôle de mouvement pour identifier et localiser rapidement et avec précision divers défauts sur les plaquettes et masques à semi-conducteurs. L'équipement comprend un amplificateur variable, une technologie de traitement d'image en temps réel, des systèmes de reconnaissance de motifs rapides et un logiciel d'acquisition d'image en plein champ. AUGUST AXI-930 est un outil avancé et fiable pour identifier et mesurer les défauts sur les plaquettes et masques semi-conducteurs.