Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 100A1 #9239070 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 100A1 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes, conçu pour détecter les défauts des photomasques et des plaquettes minces utilisés dans la production de composants microélectroniques extrêmement petits. Ce type d'équipement est essentiel pour le contrôle de la qualité et la détection des défauts qui peuvent être manqués à l'aide d'un microscope standard. AUGUST NSX 100A1 utilise des structures d'observation dynamique (DOF) brevetées pour détecter avec précision les petits défauts sur les surfaces planes et irrégulières, comme sur les couches minces de plaquettes. Ce système utilise une unité d'imagerie intégrée avec une haute résolution et un zoom variable pour identifier les défauts au niveau microscopique. Un algorithme d'imagerie stochastique ricochet (SRI) est utilisé pour capturer des images de surfaces complexes à l'aide d'un balayage haute fréquence afin de séparer les caractéristiques des plaquettes et d'identifier rapidement les défauts. RUDOLPH NSX 100A1 est conçu pour manipuler des photomasques standard de tailles allant jusqu'à 200mm et des plaquettes minces allant jusqu'à 300mm, tous avec la même résolution. La machine dispose d'une fonction d'étalonnage automatisé qui permet à l'opérateur de composer rapidement et de maintenir la bonne mise au point. L'interface utilisateur de NSX 100A1 est un écran tactile graphique intuitif qui peut être utilisé avec un stylet ou un tactile. L'interface permet de régler et d'ajuster rapidement les paramètres d'inspection. Il permet également à l'opérateur de visualiser le masque ou la plaquette en images 2D et 3D, ce qui est parfait pour les applications nécessitant un haut degré de précision, comme lors de la réalisation de circuits intégrés. RUDOLPH/AUGUST NSX 100A1 a également des fonctionnalités avancées pour aider à la classification des défauts, l'inspection automatisée des défauts et l'analyse des défauts. Il peut détecter des particules aussi petites que 2,5 microns, ce qui est essentiel pour le contrôle de la qualité dans la production de micro-caractéristiques. La fonction d'analyse des défauts prend des images par lots acquises au cours du processus d'imagerie, ce qui permet à l'outil de détecter et de classer les défauts rapidement et avec précision. AUGUST NSX 100A1 est l'atout idéal pour une inspection rapide des masques et des plaquettes. Ses fonctionnalités avancées et son interface utilisateur intuitive le rendent facile à configurer et à utiliser, et la capacité de capturer et d'analyser les défauts à une résolution extrêmement élevée en font un choix idéal pour le contrôle de qualité dans le processus de production microélectronique.