Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #293586627 à vendre en France

L'équipement RUDOLPH/AUGUST NSX 105 Masque et Wafer Inspection est un ensemble complet pour l'inspection des masques et des produits de wafer fabriqués. Il est capable d'acquérir rapidement et avec précision des images des défauts qui peuvent exister à la surface des substrats, et est réalisé grâce à l'utilisation d'un moteur de traitement d'image avancé. Le système est capable de détecter des défauts opaques et transparents, allant de 0,1 micron à 400 microns. Ceci est réalisé en utilisant des caméras CCD couleur haute résolution avec des microscopes directs et planaires qui ont été conçus pour fournir une imagerie haute résolution. Les capacités d'imagerie améliorées de l'unité AUGUST NSX-105 Mask & Wafer Inspection permettent de détecter des défauts opaques et transparents, ainsi que des fonctionnalités facultatives telles que l'imagerie latérale et la cartographie des défauts. En utilisant la table de masque, la machine peut effectuer un balayage jusqu'à des vitesses de 600 wafers par heure et les microscopes directs permettent de détecter des caractéristiques jusqu'à 0,15 µm. De plus, l'outil utilise l'optique la plus rapide possible pour s'assurer que les images sont capturées dans la plus haute qualité possible. En outre, l'actif est entièrement automatisé et fonctionne à travers des postes de travail portables. Le logiciel convivial permet une navigation rapide et facile en quelques clics. L'interface graphique intuitive du logiciel affiche les images des caméras et offre un accès à des paramètres tels que le zoom et la luminosité, permettant aux utilisateurs de personnaliser les performances du modèle en fonction de leurs besoins spécifiques d'application. L'équipement fournit également un logiciel de comptage des défauts et un logiciel de contrôle statistique des processus pour générer rapidement et avec précision des rapports d'échec de passe, ce qui permet de gagner du temps et des erreurs coûteuses. Le système RUDOLPH NSX 105 Masque et Wafer Inspection est une unité d'inspection complète parfaite pour une large gamme d'exigences de fabrication et d'inspection technique de masque et de wafer. Grâce à son interface graphique intuitive et à son ensemble complet de fonctionnalités, les utilisateurs peuvent configurer la machine rapidement et facilement en fonction de leurs exigences d'application spécifiques. En tant que tel, cet outil offre aux fabricants un moyen fiable, efficace et rentable de détecter et de suivre les défauts sur les masques et les substrats fabriqués.