Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #293607882 à vendre en France
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ID: 293607882
Style Vintage: 2006
Macro defect inspection system
Includes:
Wafer handler
Universal film frame handler
Missing / Damaged parts:
X-Stage encoder
NSK Controller
Matrox PC
PS Stage, 24 V
2006 vintage.
RUDOLPH/AUGUST NSX 105 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes de haute performance qui fournit une solution moderne et économique pour l'inspection et la réparation des masques et plaquettes de semi-conducteur. Ce système est conçu pour identifier et détecter avec précision les défauts des IC à l'aide de technologies d'inspection avancées telles que la reconnaissance d'images 3D, le piquage d'images, le laser à double faisceau et les algorithmes avancés de traitement d'images. AUGUST NSX-105 utilise deux lasers dans un design « dual-beam ». Ces lasers permettent une analyse de haute précision des motifs des plaquettes et des masques en ce qui concerne leur forme, leur taille et d'autres caractéristiques. Toutes les images générées par l'unité peuvent être stockées dans sa mémoire embarquée pour un traitement et une analyse ultérieurs. La machine comprend également une option de piquage d'image embarquée, qui peut être utilisée pour relier plusieurs images ensemble pour analyser de grands champs plus rapidement et plus précisément. RUDOLPH NSX 105 est équipé d'une suite logicielle avancée qui permet aux utilisateurs d'inspecter avec précision les modèles complexes efficacement et rapidement. Sa fonction de reconnaissance d'image 3D permet une détection rapide et précise de défauts et de motifs, même très petits. En outre, le logiciel utilisé pour cet outil comprend d'autres fonctionnalités avancées, telles que la détection intégrée des frontières et les algorithmes de regroupement des défauts. L'actif est compact, léger et facile à utiliser. Il dispose d'une interface simple, permettant aux opérateurs d'ajuster rapidement les paramètres critiques ou de mettre en place des procédures d'inspection personnalisées. Il peut également être utilisé dans un plus large éventail d'applications et de contextes, tels que les lignes de production IC et les systèmes d'encapsulation IC. RUDOLPH NSX 105 est une solution fiable et efficace pour l'inspection et la réparation des masques et plaquettes semi-conducteurs. Ses fonctions avancées de reconnaissance d'image et de couture d'image garantissent une analyse de haute précision, tandis que son interface utilisateur facile à utiliser et flexible le rend adapté à une variété d'utilisations. La combinaison de ces caractéristiques fait du modèle un excellent choix pour tout environnement de production de semi-conducteurs qui nécessite une inspection précise, fiable et économique des masques et des plaquettes.
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