Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #293615447 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 105 Masque & Wafer Inspection Equipment est conçu pour l'inspection de haute précision des plaquettes, masques et réticules utilisés dans la fabrication de composants microélectroniques. Il est composé d'un certain nombre de composants dont des logiciels, système d'imagerie, tête optique et composants de contrôle. Le logiciel utilisé dans l'unité est le progiciel WINNSX. Cela permet le fonctionnement de la machine ainsi que sa personnalisation en fonction des applications individuelles. Il comprend des fonctions d'acquisition et d'analyse d'image, ainsi que des routines d'alignement et d'étalonnage des masques. Le logiciel comprend également divers outils de détection et de signalement des défauts. L'outil d'imagerie utilisé dans AUGUST NSX-105 est une caméra CCD avec un atout d'optique télécentrique. La caméra est utilisée pour recueillir des images numériques des objets inspectés. Il est capable de capturer des images de haute résolution, ainsi que des images prises dans des directions arbitraires pour la détection de défauts. La tête optique est utilisée pour coupler la caméra CCD aux objets inspectés. Il est composé d'une paire d'objectifs destinés à recueillir la lumière des différentes parties de l'objet inspecté. Il comprend également deux étages de haute précision pour positionner la caméra sur les objets inspectés. Les composants de contrôle utilisés dans RUDOLPH NSX 105 sont composés d'un écran tactile et d'un ensemble de boutons de contrôle. Ils sont utilisés pour contrôler le modèle d'imagerie, la tête optique et le logiciel. Ils permettent également de personnaliser l'équipement, ainsi que de faciliter le fonctionnement et la navigation. AUGUST NSX 105 est un système avancé d'inspection et d'analyse des masques, plaquettes et réticules utilisés dans la fabrication de composants microélectroniques. Il offre une inspection de haute précision et la détection des défauts, ainsi que la capacité de le personnaliser en fonction des applications individuelles. Ses composants, y compris l'unité d'imagerie, la tête optique et les composants de contrôle, en font un outil efficace pour l'inspection et l'analyse des produits microélectroniques.