Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #293644486 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 105 masque & wafer inspection equipment est un instrument de précision utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs pour des mesures précises et précises des dimensions critiques des circuits intégrés (IC) et d'autres composants sur les cartes de circuits imprimés. Le système offre des mesures précises et précises à grande vitesse. Il dispose d'une combinaison de cinq composants : unité optique, machine de commande, porte-spécimen, console de numérisation et console d'affichage. L'outil optique de l'outil AUGUST NSX-105 masque et d'inspection des plaquettes est constitué d'un modèle de détection et de mesure de la lumière (LIDAR), d'un microscope et d'une caméra à couplage de charge (CCD). L'équipement LIDAR utilise la technologie laser pour détecter la profondeur des échantillons inspectés et contrôle le positionnement de l'extrémité de la sonde par rapport à l'échantillon. Le microscope fournit une résolution de haute précision pour visualiser avec précision les composants de la carte. La caméra CCD est utilisée pour capturer une image haute résolution pour le traitement hors ligne. Le système de contrôle du masque et de l'inspection des plaquettes RUDOLPH NSX 105 est une unité de traitement haute performance qui communique avec l'optique, le porte-spécimen, la console de numérisation et la console d'affichage. Il contient un contrôleur logique programmable (PLC) et d'autres composants nécessaires pour traiter et analyser les données de la machine. Le PLC est programmé pour exécuter des instructions et des calculs en temps réel pour positionner avec précision la pointe de la sonde. L'outil de contrôle comprend également un signal auditif avertissant les inspecteurs des problèmes éventuels au cours du processus. Les détenteurs de spécimens du masque NSX 105 et du matériel d'inspection des plaquettes servent de base au spécimen. Ils contiennent des poignées internes, qui facilitent la manipulation et le déplacement, ainsi que des clips ou des serrures pour assurer la stabilité de l'échantillon. Les porte-spécimens sont disponibles dans une variété de tailles pour accueillir des spécimens de différentes tailles et géométries. La console de numérisation RUDOLPH/AUGUST NSX-105 dispose d'un écran haute résolution qui permet aux utilisateurs de visualiser les échantillons examinés au microscope. Les utilisateurs peuvent également contrôler le positionnement de la pointe de la sonde et réguler l'éclairage de l'échantillon. La console d'affichage contient des commandes pour l'entrée/sortie des données, l'identification et la mesure des spécimens, ainsi que des étalonnages manuels et automatiques. AUGUST NSX 105 masque & wafer inspection model est un équipement tout-en-un conçu pour fournir la mesure de précision avec une grande précision et la vitesse. Le système excelle grâce à ses systèmes d'optique et de contrôle avancés, associés à des porte-échantillons robustes et fiables et à l'interface utilisateur ergonomique. RUDOLPH/AUGUST NSX 105 inspecte efficacement les composants des masques et des plaquettes, assurant la production de produits semi-conducteurs de haute qualité.