Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #9177357 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 105 est un équipement d'inspection compact, masque et plaquette conçu pour la détection rapide et précise des défauts. Les capacités de détection et d'analyse automatisées du système sont conçues pour fournir des informations détaillées sur les défauts et autres caractéristiques non optiques du masque semi-conducteur mince et des substrats de plaquettes. Il est bien adapté pour être utilisé dans des environnements de R-D, de contrôle des procédés ou de production à faible volume. Cette unité utilise un hybride de techniques optiques de contact et sans contact pour détecter des anomalies de surface sur les masques et les plaquettes. Sa tête de contact contient un réseau de 40 lasers parallèles haute résolution qui balayent le substrat en un seul trajet et mesurent indépendamment différentes caractéristiques. La tête de contact est équipée d'un micro-manipulateur qui permet une mesure absolue du profil de hauteur des bosses et autres microstructures. En plus de son approche par contact, la machine utilise la technologie d'éclairage à large bande pour fournir des mesures optiquement basées sur une, deux ou trois bandes distinctes sur la plaquette. Cela permet à l'outil de mesurer une gamme de caractéristiques, depuis les contours des puces et la rugosité de la surface jusqu'aux paramètres prédéterminés du motif. L'actif est capable de générer automatiquement un graphique de surface des caractéristiques en utilisant jusqu'à la visualisation tridimensionnelle des données. Il est en outre équipé de capacités de localisation des défauts de haute précision, d'analyse de surface et d'examen automatisé des défauts, ainsi que de réglage en temps réel de la stabilité du modèle et d'illustration automatisée des défauts. AUGUST NSX-105 a la souplesse nécessaire pour être intégré à un équipement d'inspection spécialisé ou intégré à un plus grand flux de processus. Dans les deux cas, il peut être connecté via Ethernet, GPIB (General Purpose Interface Bus) ou des ports USB. En outre, il est livré avec des outils logiciels embarqués qui fournissent en temps réel, données automatisées de détection des défauts, maximisant l'efficacité. Le logiciel embarqué comprend un éditeur d'image orienté par défaut, une journalisation flexible des données, et plus encore. Dans l'ensemble, RUDOLPH NSX 105 est un système avancé et compact conçu pour la détection rapide et fiable des défauts et autres caractéristiques de surface sur le masque semi-conducteur mince et les substrats de plaquettes. Avec sa combinaison de techniques optiques de contact avancées et sans contact, ainsi que ses diverses capacités automatisées, il est bien adapté pour une utilisation en laboratoire ou dans des environnements de production.