Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #9298761 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 105 Masque et Wafer Inspection Equipment est un système d'inspection d'imagerie qui est utilisé pour examiner les surfaces des wafers pour détecter les irrégularités et les imperfections. Cette unité d'inspection peut être utilisée pour détecter la contamination, l'amincissement, les trous d'épingle, les dislocations, les défauts et d'autres anomalies de surface. La machine utilise une source de lumière blanche, une caméra optique et un algorithme de reconnaissance de motifs d'imagerie pour capturer des images et effectuer des inspections. AUGUST NSX-105 se compose d'un outil d'éclairage de champ sombre composé d'une source lumineuse LED blanche et d'un miroir de champ sombre en forme de tasse. L'actif est également équipé d'une caméra optique et d'un laser qui utilise le balayage interférométrique à focale (IFS) pour mesurer les irrégularités de hauteur et de surface. Le modèle comporte également un algorithme de reconnaissance de motifs qui est utilisé pour détecter toute irrégularité dans la surface de la plaquette. Les images d'inspection sont prises avec la caméra optique à deux angles et stockées sur le disque dur de l'équipement. Le système enregistre également les conditions dans lesquelles les images ont été prises, telles que les types de masques utilisés, le type de lumière utilisé, et les paramètres de l'algorithme de reconnaissance de motifs. Les images enregistrées sont ensuite analysées par l'algorithme de reconnaissance de motifs de l'unité. Cet algorithme utilise une technique basée sur un modèle pour détecter toute irrégularité ou imperfection sur la surface de la plaquette. L'algorithme utilise également une technique tridimensionnelle pour mesurer la hauteur des irrégularités éventuelles. RUDOLPH NSX 105 est capable d'analyser automatiquement jusqu'à 1000 plaquettes en une seule fois. La machine peut être adaptée aux besoins spécifiques de l'utilisateur, et elle peut être utilisée pour une variété de défauts, tels que la contamination, les dislocations, les trous d'épingle, l'amincissement, et d'autres anomalies de surface. NSX 105 Masque et Wafer Inspection Tool est un outil avancé pour détecter, reconnaître et mesurer l'irrégularité et l'imperfection de la surface. Cet actif est facile à utiliser et est idéal pour l'inspection et l'assurance qualité des surfaces de plaquettes.