Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #9400702 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 105 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour l'inspection de dispositifs semi-conducteurs avancés de petite taille. Ce système est capable d'inspecter jusqu'à 10 000 images de plaquettes par seconde et de détecter des défauts aussi petits que 0,6 microns. AUGUST NSX-105 peut être utilisé pour inspecter des plaquettes avec une plage de taille de 75nm à 800nm. L'appareil est équipé d'une caméra d'imagerie CMOS 4kx4k haute résolution, permettant à l'utilisateur d'inspecter de plus grandes zones et de comparer avec précision les images côte à côte. En outre, la caméra est capable de détecter les défauts, des lignes ouvertes et des courts-métrages aux filigranes et aux décalages de motifs, qui peuvent avoir été causés au cours du processus de fabrication. RUDOLPH NSX 105 comprend également une bibliothèque logicielle de scripts d'inspection automatisés qui permettent d'améliorer la configuration des tâches, l'examen des données et la vitesse de détection. La machine utilise un microscope numérique, fournissant aux utilisateurs des images haute résolution pour évaluer rapidement le produit pour les défauts de qualité. Le microscope est équipé d'une variété d'objectifs, de lentilles et de filtres pour aider à détecter et diagnostiquer avec précision les défauts. L'outil est également livré avec plusieurs algorithmes d'inspection avancés, tels que Edge Detection et 3D Step Height Mapping. Ces algorithmes permettent de détecter des incohérences et des défauts dans le matériau, ainsi que de noter l'état du masque/plaquette afin de noter le succès du processus. NSX 105 est un choix idéal pour inspecter les plaquettes de silicium à grande vitesse en raison de ses capacités d'imagerie haute résolution et de ses fonctions automatisées avancées. Cet atout est conçu pour être facile à configurer et à utiliser, permettant à l'utilisateur d'inspecter rapidement et avec précision un grand nombre de plaquettes avec un minimum d'effort. Le modèle est bien adapté à l'utilisation par les fabricants de semi-conducteurs et les laboratoires de recherche, fournissant un moyen facile et fiable pour l'assurance de la qualité.