Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #293598219 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 115 est un masque haute performance et un équipement d'inspection de plaquettes conçu pour détecter les défauts dans une variété d'applications de dispositifs semi-conducteurs. Ce système utilise une technologie d'imagerie avancée et des algorithmes avancés pour inspecter une variété de matériaux, y compris l'emballage avancé et l'optoélectronique. Il est capable de détecter des défauts liés à l'image, tels que des variations de largeur de ligne, un décalage de motif, des circuits ouverts/cassés sur des plaquettes logiques et mémoire, et un câblage Cu/Al ultra fin. AUGUST NSX 115 dispose d'une conception intégrée entièrement automatisée qui nécessite un minimum d'opérateurs et permet une inspection automatisée rentable. Il est équipé de puissantes capacités d'imagerie optique, y compris la reconnaissance avancée de motifs, Wafer Identification Reader (WDIR), des inspections de modèles et des détections automatiques de particules. Il offre également une large gamme de vitesses d'inspection, y compris la vitesse de balayage rapide et la mesure de précision des caractéristiques de l'appareil. RUDOLPH NSX 115 dispose d'un écran couleur haute résolution et d'une interface utilisateur intuitive, permettant une comparaison rapide et efficace des données provenant de masques et de plaquettes multiples. Cette machine offre un large éventail d'options d'inspection intégrées, y compris l'inspection de la matrice à la matrice, l'inspection de la tranche à la plaquette et les inspections simultanées de la matrice à la plaquette et de la plaquette à la plaquette. Il offre également une bibliothèque unique de reconnaissance de motifs pour la classification automatisée des défauts, ainsi qu'un algorithme avancé de correspondance de motifs pour réduire la fausse détection. L'outil simplifie encore les opérations avec sa capacité d'inspection entièrement automatisée basée sur la vision, ce qui élimine le besoin d'inspection manuelle des échantillons et le besoin de matériel coûteux. Les capacités de vérification multi-zones de l'actif offrent des solutions rentables pour détecter les défauts partiels. En outre, NSX 115 a une excellente répétabilité et reproductibilité et offre une sensibilité supérieure à la détection des défauts, facilitant la caractérisation supérieure des défauts et l'analyse du rendement. Dans l'ensemble, le modèle RUDOLPH/AUGUST NSX 115 est un équipement polyvalent, performant et très économique d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour répondre aux exigences strictes des applications des dispositifs semi-conducteurs. Avec sa technologie d'imagerie avancée, sa vitesse de balayage rapide et son interface utilisateur intuitive, ce système est un outil puissant pour détecter les défauts critiques et améliorer le rendement.