Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #293638622 à vendre en France

ID: 293638622
Style Vintage: 2008
Automatic Optical Inspection (AOI) system 2008 vintage.
RUDOLPH/AUGUST NSX 115 est un équipement d'inspection des masques et plaquettes conçu pour l'inspection des masques semi-conducteurs utilisés pour la lithographie et les photomasques. Utilisant des technologies avancées de reconnaissance d'image et d'inspection optique, AUGUST NSX 115 est en mesure d'identifier efficacement et avec précision les défauts de fabrication dans les plaquettes semi-conductrices à un niveau submicronique. RUDOLPH NSX 115 utilise l'éclairage LED RVB pour améliorer la précision de mesure des défauts submicroniques. Cet éclairage LED est accompagné d'un logiciel avancé de traitement d'image, permettant au système de distinguer avec précision les motifs, les défauts et les changements dans la structure du masque. Au-delà de la rectification de niveau submicronique, l'unité peut également détecter des défauts sur un niveau macro avec sa machine de classification automatique des défauts (ADC). NSX 115 dispose d'un écran S4 intégré de 12 pouces qui affiche la sortie d'image de l'outil. Les résultats du processus d'inspection peuvent être facilement examinés et évalués avec l'interface utilisateur RUDOLPH/AUGUST NSX 115 spécialement conçue. La NSX 115 d'AUGUST offre également un moyen automatisé de chargement/rejet des plaquettes, permettant un rendement et un débit maximaux. En plus de l'inspection des masques et des plaquettes, RUDOLPH NSX 115 est également compatible avec une large gamme de logiciels d'application spécialisés, tels que des paquets spécialisés pour le traitement des photomasques. Le logiciel d'application dispose d'une bibliothèque complète de paramètres d'imagerie qui permettent à l'utilisateur de personnaliser son processus d'inspection. L'utilisateur peut également traiter différents substrats, notamment des plaquettes de silicium, des substrats encapsulés, ou des plaquettes nues, ce qui en fait un outil efficace pour toute inspection de procédé semi-conducteur. En résumé, le modèle NSX 115 masque et wafer inspection est un outil très avancé et efficace pour l'inspection des procédés de semi-conducteurs. Avec son éclairage LED, son logiciel de traitement d'image avancé et ses logiciels spécifiques, RUDOLPH/AUGUST NSX 115 est capable d'identifier avec précision les défauts aux niveaux submicronique et macro. L'AUGUST NSX 115 dispose également d'un équipement automatisé de chargement/rejet de plaquettes, ce qui en fait un choix idéal pour tout processus d'inspection.
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