Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #293751614 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 115 masque & wafer inspection system est un système d'inspection très sophistiqué utilisé pour analyser les dispositifs semi-conducteurs, y compris les plaquettes et masques de substrat. Ses capacités d'imagerie optique et de balayage laser permettent à l'utilisateur de repérer les défauts à la surface et à l'intérieur d'un dispositif. Le système est livré avec une fonction d'inspection chroma intégrée, qui utilise des technologies d'imagerie avancées, telles que le balayage infrarouge et ultraviolet, pour détecter, classer et mesurer avec précision les différences de couleur de la surface d'un appareil. Cela permet de s'assurer que les composants sont conformes aux normes de l'industrie. De plus, la NSX 115 d'AUGUST utilise un processus d'inspection die-to-die. Ce processus utilise une caméra pour prendre plusieurs images de chaque die, et comparer les images pour tout écart. Ceci peut être utilisé pour identifier les zones impures ou contaminées, et peut même découvrir des défauts latents qui ne sont pas visibles à l'œil nu. RUDOLPH NSX 115 est également livré avec une variété de fonctionnalités supplémentaires pour l'analyse détaillée de l'inspection. Il s'agit notamment d'outils de reconnaissance de motifs à multiples facettes, de capacités de zoom automatisé sur les défauts et de la capacité de dessiner rapidement les contours et les étiquettes des formes de la matrice. Il dispose également d'un mode de vue 4 dimensions intégré, qui affiche la structure et la composition du dispositif en détail 3 dimensions. Ces capacités d'inspection sophistiquées, combinées à son imagerie optique très précise, font NSX 115 idéal pour une utilisation dans la fabrication de dispositifs semi-conducteurs haut de gamme. Il s'agit d'une solution fiable et rentable pour inspecter et superviser avec précision la production d'une large gamme d'appareils, tant dans les environnements commerciaux que de laboratoire.