Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #9391359 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 115 masque & wafer inspection equipment est un outil d'inspection et de métrologie de pointe conçu pour inspecter et mesurer les défauts et les imperfections des dispositifs semi-conducteurs et des wafers. Le système est capable de capturer et de détecter des défauts au niveau des sous-microns. AUGUST NSX 115 est le dernier ajout à la gamme AUGUST de systèmes d'inspection de masques et de plaquettes. RUDOLPH NSX 115 est conçu d'un point de vue unitaire, en tenant compte de l'ensemble du processus d'inspection des plaquettes du masque à la plaquette finie. Il intègre des capteurs d'inspection avancés, y compris un ensemble de quatre microscopes optiques à mag variable, optiques à champ sombre, fluorescence blindée et optique multi-vues. La machine comprend également un analyseur de modèle avancé qui est capable de détecter et de signaler le type de défaut, la taille et l'emplacement. L'outil de contrôle environnemental entièrement intégré garantit des performances cohérentes dans différentes conditions environnementales. Le sous-système d'inspection automatisée des masques NSX 115 est conçu pour identifier et signaler les défauts des plaquettes lors des étapes de sélection, de fixation et d'assemblage. La technologie avancée d'acquisition d'image et de reconnaissance des défauts de l'actif dispose de capacités avancées de reconnaissance de motifs et d'extraction de paramètres. De plus, les capacités avancées de métrologie des plaquettes RUDOLPH/AUGUST NSX 115 permettent de prendre des mesures à une résolution de sous microns, ce qui permet une analyse complète des caractéristiques et des défauts du masque. Le modèle est compatible avec tous les principaux procédés de fabrication de dispositifs semi-conducteurs et comprend une interface utilisateur graphique facile à utiliser, ce qui rend l'équipement idéal pour l'inspection des masques et des plaquettes. De plus, AUGUST NSX 115 est capable d'exporter des données de défauts vers une multitude de logiciels pour la vérification finale et la production de rapports. Le système d'inspection des masques et plaquettes RUDOLPH NSX 115 fournit une méthode efficace et fiable pour inspecter et mesurer avec précision les dispositifs et plaquettes à semi-conducteurs.