Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 115D1 #9270582 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 115D1 Mask & Wafer Inspection Equipment est un système très avancé, compact et économe en énergie conçu pour inspecter les dispositifs semi-conducteurs. Il est capable d'examiner efficacement les motifs et les caractéristiques sur les masques et les plaquettes, permettant une inspection et une analyse précises des produits finis, assurant des plaquettes de haute qualité et fiables. Il offre diverses fonctionnalités telles que la détection et la correction rapides d'images, l'imagerie haute résolution, le traitement et la mesure automatisés, et les modes flexibles d'acquisition d'images. L'unité utilise une source lumineuse avancée avec un éclairage très lumineux pour une couverture uniforme de la zone d'inspection. Cela permet de détecter même les plus petites caractéristiques sur les masques et les plaquettes. L'utilisateur peut également contrôler le niveau d'éclairage pour obtenir la sensibilité de contraste et de contraste requise. La machine dispose d'un étage de balayage laser intégré qui fournit une grande vitesse et précision lors de l'acquisition d'image. En outre, il y a un en-tête dédié pour positionner et aligner avec précision les plaquettes pour détecter les erreurs dans le motif ou les caractéristiques. AUGUST NSX 115D1 intègre une architecture ouverte à base de laser qui facilite l'analyse et la mesure personnalisées de différents types de motifs et défauts. Il offre également plusieurs fonctions intégrées de prétraitement, telles que le filtrage, l'affûtage et la détection des bords, qui permettent une détection des défauts plus rapide et plus précise. L'outil intègre également une caméra couleur haute résolution pour acquérir l'imagerie panoramique des articles inspectés. Il y a également un écran tactile LCD de 23,5 pouces, qui fournit une interface facile et intuitive pour l'utilisateur d'exploiter l'actif. De plus, le RUDOLPH NSX 115 D1 est équipé du dernier logiciel intégré. L'utilisateur peut accéder à diverses fonctions d'inspection et d'analyse, permettant une détection précise des défauts sur les masques et les plaquettes. Le logiciel fournit également une analyse 3D complète des images, permettant la reconnaissance et le traitement des défauts. Le modèle est équipé d'une interface conviviale, offrant un accès complet aux paramètres internes de l'instrument, permettant une utilisation efficace de l'équipement dans le processus de production. L'instrument dispose également d'une protection thermique et vibratoire et est adapté à une large gamme de conditions de travail. Dans l'ensemble, RUDOLPH NSX 115D1 Mask & Wafer Inspection System est une unité avancée et à la pointe de la technologie qui peut fournir aux utilisateurs une évaluation complète et précise des masques et des plaquettes. Ses caractéristiques et ses capacités en font un outil idéal pour inspecter les dispositifs semi-conducteurs.