Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 320 #9229193 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 320 masque & wafer inspection équipement est un outil intégré puissant utilisé pour le contrôle de la qualité et la détection des défauts. Il combine optique avancée, technologie de traitement d'image, et un environnement intuitif convivial pour permettre des mesures fiables de topographie, profil de plaquette, et microstructure sur une large gamme de matériaux, jusqu'à 6 "wafers. Les principaux composants du système comprennent une caméra haute résolution, un boîtier optique, un étage xy et une unité d'enregistrement à l'état solide. La boîte optique abrite un microscope optique direct, un interféromètre laser quadrant combiné et une machine laser. Le microscope optique contient une caméra CCD haute résolution avec grossissement variable de 4x à 30x. L'outil laser se compose de quatre lasers précisément calibrés pour mesurer le profil de hauteur des plaquettes. L'étape xy permet de déplacer les plaquettes vers différents points de focalisation. AUGUST NSX 320 utilise des algorithmes avancés de traitement d'images pour traiter les images acquises avec rapidité et précision. Les images sont traitées pour obtenir des cartes de topographie et de réflectivité des plaquettes avec précision jusqu'à 1 micron. Les cartes sont ensuite disposées dans un affichage codé en couleur, permettant aux techniciens d'identifier rapidement les défauts sur les plaquettes. En conjonction avec les capacités d'autofocus de l'étape, cela permet à l'actif de mesurer avec précision le profil, les caractéristiques de niveau micron et la composition de chaque type de plaquette. De plus, le logiciel RUDOLPH NSX 320 comprend une série complète d'outils pour automatiser le processus d'identification et de classification des défauts. Cela inclut les algorithmes de détection, d'évaluation et de caractérisation des défauts. Le logiciel comprend également une bibliothèque de signatures de défauts, permettant aux inspecteurs de comparer rapidement les signatures de défauts connues pour les identifier dans une fraction du temps qu'il faudrait à un humain. Le modèle NSX 320 est un outil intégré, puissant et très précis pour inspecter et analyser les plaquettes et les masques. Il combine optique de pointe, traitement d'image, et logiciel convivial pour permettre la mesure précise d'une large gamme de matériaux, jusqu'à 6 "wafers. Il est indispensable pour la production moderne de semi-conducteurs, assurant la qualité et la fiabilité des plaquettes fabriquées.