Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 330 #9328671 à vendre en France

RUDOLPH / AUGUST NSX 330
ID: 9328671
Automatic Optical Inspection (AOI) system.
RUDOLPH/AUGUST NSX 330 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu spécifiquement pour l'analyse de plaquettes semi-conductrices. Le système dispose d'une technologie avancée d'imagerie et d'analyse qui utilise l'imagerie de champ lumineux avancé et la reconnaissance optique pour obtenir des images de haute résolution des motifs, des particules et des défauts sur les plaquettes. Il dispose d'un champ de vision allant jusqu'à 14 micromètres par 14 micromètres et d'un taux d'acquisition d'images à grande vitesse allant jusqu'à 7 millions de pixels par seconde. Il a également la capacité d'effectuer plusieurs opérations de capture d'image et ajoute des techniques d'analyse d'image 3D et statistique à l'unité. Les capacités d'imagerie sont encore améliorées avec l'utilisation d'une palette de couleurs spécialisée sélectionnable par l'utilisateur pour permettre aux utilisateurs de discerner rapidement les défauts et les caractéristiques sur la plaquette. La technologie d'imagerie haut de gamme est complétée par des algorithmes avancés de reconnaissance d'images qui fournissent un traitement et une interprétation simples mais sophistiqués des images. De plus, la machine présente une isolation semi-automatique des défauts et une estimation de la densité des défauts. Il peut suivre et localiser jusqu'à quinze types de défaut et de défaut rapidement et avec précision. L'outil intègre le balayage de ligne et la technologie d'imagerie lumineuse diffusée pour atteindre une résolution haut de gamme. De plus, AUGUST NSX 330 dispose d'une interface série pour la communication avec des sources de données externes. L'actif peut être utilisé pour inspecter et analyser un large éventail de types de plaquettes semi-conductrices, y compris les plaquettes de silicium et d'arséniure de gallium. Il peut détecter et analyser de petites particules et impuretés, ainsi que de gros défauts. Il est conçu pour se conformer à diverses normes de l'industrie, y compris le protocole STDF standard de l'industrie. RUDOLPH NSX-330 offre une méthode rapide et fiable d'inspection des masques et des plaquettes. Le modèle est conçu pour un large éventail d'applications, y compris la reconnaissance des motifs, la détection des caractéristiques, l'isolement des défauts et l'estimation de la densité des défauts. Sa technologie d'imagerie avancée et son interface conviviale aident à réduire les erreurs de l'utilisateur et à améliorer l'analyse des plaquettes.
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