Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 90 #9042209 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 90 Masque & Wafer Inspection System est une nouvelle technologie révolutionnaire qui est conçue pour inspecter les plaquettes et masques semi-conducteurs CMOS de grand volume. Ce dispositif est capable de détecter des défauts jusqu'à l'échelle du nanomètre ce qui le rend idéal pour l'industrie des semi-conducteurs qui s'appuie sur la précision de leurs composants. La NSX 90 d'AUGUST utilise un système de détection optique avancé qui permet une inspection automatisée rapide et précise des plaquettes sans qu'il soit nécessaire d'effectuer des essais ou des prélèvements manuels. Le dispositif est capable de mesurer des défauts typiquement trop petits pour être détectés par les procédés classiques de contrôle utilisés par l'industrie des semi-conducteurs. RUDOLPH NSX-90 est capable de détecter des particules, des fissures, des vides et d'autres défauts de manière précise et efficace. Le dispositif utilise également une combinaison de techniques de diffusion de la lumière et d'inspection basée sur l'image pour détecter les défauts physiques et pour vérifier les irrégularités de surface des plaquettes. Le RUDOLPH NSX 90 est très efficace et rentable pour l'industrie des semi-conducteurs car il offre un débit élevé et un coût de possession exceptionnellement bas. Le dispositif offre également une variété de paramètres d'inspection flexibles qui peuvent être adaptés aux déformations spécifiques qui doivent être détectées ainsi que des réglages de lumière personnalisés pour répondre aux différents niveaux de sensibilité nécessaires. Le dispositif comprend également des solutions logicielles et matérielles puissantes qui permettent l'acquisition et l'analyse automatisées des résultats, afin que l'utilisateur puisse facilement identifier les zones de la plaquette de semi-conducteur qui doivent être réparées ou optimisées. En outre, RUDOLPH/AUGUST NSX-90 comprend des seuils d'inspection et de mesure définis par l'utilisateur qui permettent aux clients de définir leurs propres paramètres pour la précision et la répétabilité des plaquettes. Dans l'ensemble, NSX-90 est une application idéale ou semi-conductrice et d'inspection de masque et de plaquettes. Ses puissantes fonctionnalités et capacités permettent aux utilisateurs d'évaluer de manière cohérente et très précise l'état de ces composants d'une manière fiable et rentable. Cet appareil est sûr de fournir un atout précieux à l'industrie des semi-conducteurs pour de nombreuses années à venir.