Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 95 #293755012 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 95 Mask & Wafer Inspection Equipment est un système d'inspection optique de pointe conçu pour permettre la détection des défauts et de la contamination à la surface des plaquettes semi-conductrices, des réticules, des masques et des panneaux plats avec une clarté inégalée. En plus de l'inspection optique standard, l'unité vient équipée avec la Technologie ColorMap™ avancée, une méthode de visualisation qui affiche des défauts dans un format standard et intuitif. La machine AUGUST NSX-95 utilise des algorithmes avancés de traitement d'image pour détecter les défauts tout en atteignant des vitesses de traitement millisecondes avec compression matérielle. Cela permet à l'outil de reconnaître les objets rapidement et précisément, ainsi que de traiter des images complexes se chevauchant sans latence. Des caractéristiques telles que le dédimensionnement bord à bord et la restauration de l'image garantissent que les résultats de l'inspection sont toujours précis et fiables. L'actif est équipé d'un modèle de balayage de plaquettes haute performance pour la reconnaissance complète et la capture des défauts de surface et des contaminants. Il utilise un grand champ de vision, une caméra haute résolution et une source LED proche infrarouge haute puissance pour des performances et une sensibilité maximales. L'équipement comprend également une gamme d'outils de mesure du masque et du réticule, qui permettent aux utilisateurs de mesurer les défauts et la contamination, y compris les caractéristiques manquantes, les proximités et les uniformités. Le système mesure également la position des défauts par rapport aux bords de chaque élément de conception, ce qui permet aux utilisateurs de détecter des défauts trop petits ou trop proches du bord d'un élément de conception pour être détectés par la plupart des systèmes standards. L'unité est extensible, permettant aux utilisateurs de personnaliser sa fonctionnalité pour répondre aux besoins de leurs applications spécifiques. Les améliorations optionnelles de la caméra et de l'éclairage offrent une sensibilité et des performances améliorées tandis que les outils de mesure des masques et les capacités de classification automatique des défauts peuvent être ajoutés au besoin. RUDOLPH NSX 95 Masque & Wafer Inspection Machine fournit une solution complète pour l'inspection des masques et des plaquettes, permettant aux utilisateurs de détecter les défauts et la contamination rapidement, avec précision et fiabilité. Avec ses performances élevées, ses caractéristiques innovantes et son extensibilité, l'outil est adapté à un large éventail d'exigences d'inspection.